一种集成芯片pin检测与不良品分类设备循环组件
技术领域
1.本实用新型属于集成芯片pin检测及分类领域,具体涉及一种集成芯片pin检测与不良品分类设备循环组件。
背景技术:
2.集成芯片在生产的过程中需要对pin进行检测,并区分检测后的pin的良品和不良品。传统的设备只具备单纯的检测和区分良品与不良品的功能,并不能对不良品再次进行区分。上述缺陷大大的制约了pin不良分类的效率,同时也降低了分类的精度。现有技术中存在一些解决上述问题的相关的探索,但都不能满足实际的需求。
技术实现要素:
3.本实用新型所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足,提供一种集成芯片pin检测与不良品分类设备循环组件,通过上侧推机构、下推机构、下侧推机构和顶升机构配合上导向板和下导向板,可实现循环治具在循环组件内部的循环,无需人工进行干预。
4.本实用新型所采用的技术方案是:一种集成芯片pin检测与不良品分类设备循环组件,包括倾斜设置的下导向板和设置于下导向板上方且倾斜设置的上导向板,所述上导向板位置较高的一侧其中一端设有进料轨道,所述上导向板和下导向板上均设有与其相对滑动的数个循环治具,所循环治具上开有与集成芯片匹配且可供集成芯片位移的滑槽,当所述循环治具移动到与进料轨道对应的位置时,所述循环治具的滑槽与进料轨道连通,所述上导向板靠近进料轨道的一端与位于上导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿上导向板移动的上侧推机构,所述上导向板远离进料轨道的一端上方设有推动循环治具下移的下推机构,所述下导向板远离进料轨道的一端与位于下导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿下导向板移动的下侧推机构,所述下导向板靠近进料轨道的一端下方设有推动循环治具上移的顶升机构。
5.其中一个实施例中,所述上导向板和下导向板至少其中一侧面设有侧板,所述侧板分别与上导向板和下导向板连接,所述上导向板顶部设有与侧板连接的顶板。
6.其中一个实施例中,所述顶板上表面设有产品检测光纤,所述产品检测光纤设置于与进料轨道对应的循环治具上方。
7.其中一个实施例中,所述上侧推机构、下推机构、下侧推机构和顶升机构均包括推动循环治具移动的推板和与推板连接且驱动所述推板移动的推料气缸。
8.本实用新型的有益效果在于:
9.1、循环组件通过上侧推机构、下推机构、下侧推机构和顶升机构配合上导向板和下导向板,可实现循环治具在循环组件内部的循环,无需人工进行干预;
10.2、产品检测光纤的设置可检测进入循环治具的集成芯片的位置是否精确,保证后续分料的顺利进行。
附图说明
11.图1为本实用新型结构示意图。
12.图中:51、下导向板;52、上导向板;53、进料轨道;54、循环治具;541、滑槽;55、上侧推机构;56、下推机构;57、下侧推机构;58、顶升机构;59、侧板;510、产品检测光纤;551、推板;552、推料气缸。
具体实施方式
13.下面将结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。
14.实施例1:
15.如图1所示,本实用新型公开了一种集成芯片pin检测与不良品分类设备循环组件,包括倾斜设置的下导向板51和设置于下导向板51上方且倾斜设置的上导向板52,所述上导向板52位置较高的一侧其中一端设有进料轨道53,所述上导向板52和下导向板51上均设有与其相对滑动的数个循环治具54,所循环治具54上开有与集成芯片匹配且可供集成芯片位移的滑槽541,当所述循环治具54移动到与进料轨道53对应的位置时,所述循环治具54的滑槽541与进料轨道53连通,所述上导向板52靠近进料轨道53的一端与位于上导向板52上的循环治具54对应的位置设有推动循环治具54沿上导向板52移动的上侧推机构55,所述上导向板52远离进料轨道53的一端上方设有推动循环治具54下移的下推机构56,所述下导向板51远离进料轨道53的一端与位于下导向板51上的循环治具54对应的位置设有推动循环治具54沿下导向板51移动的下侧推机构57,所述下导向板51靠近进料轨道53的一端下方设有推动循环治具54上移的顶升机构58。
16.循环组件通过上侧推机构55、下推机构56、下侧推机构57和顶升机构58配合上导向板52和下导向板51以实现循环治具54在循环组件5内的循环,无需人工干预,大大的提高了分类的效率。
17.实施例2:
18.如图1所示,在上述实施例的基础上,所述上导向板52和下导向板51至少其中一侧面设有侧板59,所述侧板59分别与上导向板52和下导向板51连接,所述上导向板52顶部设有与侧板59连接的顶板。
19.侧板59和顶板的设置,为循环治具54的位移提供限位,且使得循环组件形成一个闭合的空间,保证循环治具54循环的准确。
20.实施例3:
21.如图1所示,在上述实施例的基础上,所述顶板上表面设有产品检测光纤510,所述产品检测光纤510设置于与进料轨道53对应的循环治具54上方。
22.产品检测光纤510的设置可检测进入循环治具54的集成芯片的位置是否精确,保证后续分料的顺利进行。
23.实施例4:
24.如图1所示,在上述实施例的基础上,所述上侧推机构55、下推机构56、下侧推机构57和顶升机构58均包括推动循环治具54移动的推板551和与推板551连接且驱动所述推板551移动的推料气缸552。
25.上侧推机构55、下推机构56、下侧推机构57和顶升机构58均通过推料气缸552驱动
推板551来推动循环治具54,这样的方式简单且高效。
26.循环组件通过进料轨道53与集成芯片pin检测及不良分类设备的电性测试组件连通,电性测试完成的集成芯片进入循环治具54的滑槽541内。根据电性测试的结果,上侧推机构55推动循环治具54朝着远离进料轨道53的一端位移,将集成芯片送到对应的出料通道对应的位置。下推机构56将移动到上导向板52末端的循环治具54推送到下导向板51上,下侧推机构57推动循环治具54朝靠近进料轨道53的一端位移,顶升机构58将移动到下导向板51末端的循环治具54推动到上导向板52侧面,完成循环治具54的循环。
27.上述上侧推机构55、下推机构56、下侧推机构57和顶升机构58均通过推料气缸552驱动并由推板551完成推送的动作。
28.以上所述实施例仅表达了本实用新型的具体实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。
技术特征:
1.一种集成芯片pin检测与不良品分类设备循环组件,其特征在于,包括倾斜设置的下导向板和设置于下导向板上方且倾斜设置的上导向板,所述上导向板位置较高的一侧其中一端设有进料轨道,所述上导向板和下导向板上均设有与其相对滑动的数个循环治具,所循环治具上开有与集成芯片匹配且可供集成芯片位移的滑槽,当所述循环治具移动到与进料轨道对应的位置时,所述循环治具的滑槽与进料轨道连通,所述上导向板靠近进料轨道的一端与位于上导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿上导向板移动的上侧推机构,所述上导向板远离进料轨道的一端上方设有推动循环治具下移的下推机构,所述下导向板远离进料轨道的一端与位于下导向板上的循环治具对应的位置设有推动循环治具沿下导向板移动的下侧推机构,所述下导向板靠近进料轨道的一端下方设有推动循环治具上移的顶升机构。2.根据权利要求1所述的一种集成芯片pin检测与不良品分类设备循环组件,其特征在于,所述上导向板和下导向板至少其中一侧面设有侧板,所述侧板分别与上导向板和下导向板连接,所述上导向板顶部设有与侧板连接的顶板。3.根据权利要求2所述的一种集成芯片pin检测与不良品分类设备循环组件,其特征在于,所述顶板上表面设有产品检测光纤,所述产品检测光纤设置于与进料轨道对应的循环治具上方。4.根据权利要求3所述的一种集成芯片pin检测与不良品分类设备循环组件,其特征在于,所述上侧推机构、下推机构、下侧推机构和顶升机构均包括推动循环治具移动的推板和与推板连接且驱动所述推板移动的推料气缸。
技术总结
本实用新型公开一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备循环组件,包括下导向板和上导向板,所述上导向板一侧其中一端设有进料轨道,所述上导向板和下导向板上均设有与其相对滑动的数个循环治具,所循环治具上开有滑槽,所述上导向板靠近进料轨道的一端设有上侧推机构,所述上导向板远离进料轨道的一端上方设有下推机构,所述下导向板远离进料轨道的一端设有推动循环治具沿下导向板移动的下侧推机构,所述下导向板靠近进料轨道的一端下方设有推动循环治具上移的顶升机构。本实用新型通过上侧推机构、下推机构、下侧推机构和顶升机构配合上导向板和下导向板,可实现循环治具在循环组件内部的循环,无需人工进行干预。无需人工进行干预。无需人工进行干预。
技术研发人员:邓惠文 母寿星 刘军 王强
受保护的技术使用者:四川辰鸿电子有限公司
技术研发日:2021.08.30
技术公布日:2022/3/8