1.本实用新型涉及单纤维样品测试技术领域,尤其涉及一种微纳米尺度单纤维样品制样系统。
背景技术:
2.纤维与树脂复合材料界面性能的测试对复合材料的研发有重要的指导作用,现有的测试方法用的夹具体积大,样品安装不方便,需要设计更加简单易操作的夹具。
技术实现要素:
3.(一)实用新型目的
4.为解决背景技术中存在的技术问题,本实用新型提出一种微纳米尺度单纤维样品制样系统,本实用新型结构小巧方便对样品进行安装,大大提高制样效率。
5.(二)技术方案
6.本实用新型提供了一种微纳米尺度单纤维样品制样系统,包括底板、两个割刀固定板、两个第一三维平台、密封罩底座、第二三维平台、夹具固定座、密封罩、立柱、镜头升降台、背景光源、镜头系统组件和背景光源控制器;
7.密封罩底座连接底板,密封罩底座上设有第二通孔,密封罩底座上三个依次相邻的侧端面上设有两个用于供两个割刀固定板和夹具固定座伸入密封罩底座内的第一通孔;
8.两个第一三维平台并排分布并位于密封罩底座的两侧,两个第一三维平台均连接底板,两个第一三维平台的移动端分别连接两个割刀固定板;两个割刀固定板相互靠近的一端分别设有两个割刀;
9.第二三维平台连接底板,第二三维平台位于两个第一三维平台连线方向的一侧,第二三维平台的移动端连接夹具固定座;夹具固定座位于两个割刀固定板之间,位于密封罩底座内的夹具固定座上设有用于放置单纤维样品的样品台固定座;
10.背景光源连接底板,背景光源的光源端穿过第二通孔伸入密封罩底座内;密封罩连接密封罩底座的上端面,密封罩远离密封罩底座的端面上设有用于供镜头系统组件穿过的第三通孔;
11.镜头系统组件连接镜头升降台;镜头升降台上设有用于沿立柱的中轴线方向驱动镜头升降台移动的第一旋钮和第二旋钮;立柱连接底板;
12.背景光源控制器连接底板,背景光源控制器、镜头系统组件和背景光源电性连接。
13.优选的,密封罩包括第一罩体和第二罩体;
14.第一罩体的上端面设有第一凹槽;第二罩体的上端面设有第二凹槽;
15.第一罩体和第二罩体均连接密封罩底座的状态下,第一罩体朝向第二罩体的端面压紧第二罩体,第一凹槽和第二凹槽形成第三通孔。
16.优选的,第一罩体和第二罩体上均设有把手。
17.优选的,还包括四个紧定件;每个割刀均通过两个紧定件可拆卸连接每个割刀固
定板。
18.优选的,样品台固定座包括两个样品固定台、两个样品台上梁、两个样品台左支架和两个样品台右支架;
19.两个样品台左支架并排分布,并均可拆卸连接夹具固定座
20.两个样品台右支架并排分布,并分别连接两个样品台左支架相互靠近的一侧,两个样品台右支架通过连接杆连接,每个样品台右支架上均设有样品台固定孔和样品台锁紧孔;其中,两个割刀位于两个样品台右支架之间;
21.两个样品台上梁分别连接两个样品台右支架;两个样品固定台分别连接两个样品台上梁。
22.与现有技术相比,本实用新型的上述技术方案具有如下有益的技术效果:
23.本实用新型中,使用时将密封罩从密封罩底座上拆卸下来,把样品台固定座从夹具固定座上取下,在样品台固定座上制取单纤维样品;把带有单纤维样品的样品台固定座安装到夹具固定座上,再将密封罩与密封罩底座配合安装,以将带有单纤维样品的样品台固定座封闭的密封罩与密封罩底座内,避免了外界杂光对单纤维样品观察的干扰,使用第一旋钮和第二旋钮调节镜头升降台和镜头系统组件,配合背景光源快速找到样品台固定座上的单纤维样品,通过控制第一三维平台调整割刀的空间位置,使用割刀清除单纤维样品上的干扰纤维,完成制样,操作简单使用方便;
24.本实用新型提供的微纳米尺度单纤维样品制样系统结构小巧,方便对单纤维样品进行安装,操作简单使用方便,大大提高对单纤维样品的制样效率。
附图说明
25.图1为本实用新型提出的一种微纳米尺度单纤维样品制样系统的立体图。
26.图2为本实用新型提出的一种微纳米尺度单纤维样品制样系统中取下密封罩和密封罩底座后的立体图。
27.图3为本实用新型提出的一种微纳米尺度单纤维样品制样系统中a处局部放大的结构示意图。
28.附图标记:1、底板;2、割刀固定板;3、第一三维平台;4、密封罩底座;5、第二三维平台;6、夹具固定座;7、密封罩;8、把手;9、立柱;10、第一旋钮;11、第二旋钮;12、镜头升降台;13背景光源;14、镜头系统组件;15、背景光源控制器;18、样品台固定座;19、样品台固定孔;20、样品台锁紧孔;22、样品固定台;23、样品台上梁;24、样品台左支架;25、样品台右支架;27、割刀;28、紧定件。
具体实施方式
29.为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了,下面结合具体实施方式并参照附图,对本实用新型进一步详细说明。应该理解,这些描述只是示例性的,而并非要限制本实用新型的范围。此外,在以下说明中,省略了对公知结构和技术的描述,以避免不必要地混淆本实用新型的概念。
30.如图1-3所示,本实用新型提出的一种微纳米尺度单纤维样品制样系统,包括底板1、两个割刀固定板2、两个第一三维平台3、密封罩底座4、第二三维平台5、夹具固定座6、密
封罩7、立柱9、镜头升降台12、背景光源13、镜头系统组件14和背景光源控制器15;
31.密封罩底座4连接底板1,密封罩底座4上设有第二通孔,密封罩底座4上三个依次相邻的侧端面上设有两个用于供两个割刀固定板2和夹具固定座6伸入密封罩底座4内的第一通孔;
32.两个第一三维平台3并排分布并位于密封罩底座4的两侧,两个第一三维平台3均连接底板1,两个第一三维平台3的移动端分别连接两个割刀固定板2,第一三维平台3用于调整割刀固定板2的位置;两个割刀固定板2相互靠近的一端分别设有两个割刀27;
33.使用时,通过设有的两个割刀27能从两个方向对制样平台上的干扰纤维进行切割;
34.第二三维平台5连接底板1,第二三维平台5位于两个第一三维平台3连线方向的一侧,第二三维平台5的移动端连接夹具固定座6;夹具固定座6位于两个割刀固定板2之间,位于密封罩底座4内的夹具固定座6上设有用于放置单纤维样品的样品台固定座18;
35.背景光源13连接底板1,背景光源13的光源端穿过第二通孔伸入密封罩底座4内;
36.密封罩7连接密封罩底座4的上端面,密封罩7远离密封罩底座4的端面上设有用于供镜头系统组件14穿过的第三通孔,密封罩7与密封罩底座4形成密封空间,将样品放置于封闭的密封罩7与密封罩底座4内,避免了外界杂光对单纤维样品观察的干扰;
37.镜头系统组件14连接镜头升降台12;镜头升降台12上设有用于沿立柱9的中轴线方向驱动镜头升降台12移动的第一旋钮10和第二旋钮11;立柱9连接底板1;
38.背景光源控制器15连接底板1,背景光源控制器15、镜头系统组件14和背景光源13电性连接,背景光源控制器15、镜头系统组件14和背景光源13形成数字光学观察系统,用来观察单纤维样品。
39.本实用新型的一个实施例中,使用时,将密封罩7从密封罩底座4上拆卸下来,把样品台固定座18从夹具固定座6上取下,在样品台固定座18上制取单纤维样品;把带有单纤维样品的样品台固定座18安装到夹具固定座6上,再将密封罩7与密封罩底座4配合安装,以将带有单纤维样品的样品台固定座18封闭的密封罩7与密封罩底座4内,避免了外界杂光对单纤维样品观察的干扰,使用第一旋钮10和第二旋钮11调节镜头升降台12和镜头系统组件14,配合背景光源13快速找到样品台固定座18上的单纤维样品,通过控制第一三维平台3调整割刀27的空间位置,使用割刀27清除单纤维样品上的干扰纤维,完成制样,操作简单使用方便。
40.在一个可选的实施例中,密封罩7包括第一罩体和第二罩体;
41.第一罩体的上端面设有第一凹槽;第二罩体的上端面设有第二凹槽;
42.第一罩体和第二罩体均连接密封罩底座4的状态下,第一罩体朝向第二罩体的端面压紧第二罩体,第一凹槽和第二凹槽形成第三通孔。
43.在一个可选的实施例中,第一罩体和第二罩体上均设有把手8。
44.在一个可选的实施例中,还包括四个紧定件28;每个割刀27均通过两个紧定件28可拆卸连接每个割刀固定板2;
45.其中,每个割刀固定板2上均设有螺纹孔,每个割刀27上均设有安装孔;
46.每个紧定件28分别穿过安装孔并螺纹旋入螺纹孔内,使用紧定件28将割刀27压紧在割刀固定板2上;
47.进一步的,每个紧定件28均螺纹配合连接螺母;螺母朝向割刀固定板2的端面压紧割刀固定板2。
48.在一个可选的实施例中,样品台固定座18包括两个样品固定台22、两个样品台上梁23、两个样品台左支架24和两个样品台右支架25;
49.两个样品台左支架24并排分布,并均可拆卸连接夹具固定座6
50.两个样品台右支架25并排分布,并分别连接两个样品台左支架24相互靠近的一侧,两个样品台右支架25通过连接杆连接,每个样品台右支架25上均设有样品台固定孔19和样品台锁紧孔20;其中,两个割刀27位于两个样品台右支架25之间;
51.两个样品台上梁23分别连接两个样品台右支架25;两个样品固定台22分别连接两个样品台上梁23。
52.应当理解的是,本实用新型的上述具体实施方式仅仅用于示例性说明或解释本实用新型的原理,而不构成对本实用新型的限制。因此,在不偏离本实用新型的精神和范围的情况下所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。此外,本实用新型所附权利要求旨在涵盖落入所附权利要求范围和边界、或者这种范围和边界的等同形式内的全部变化和修改例。