一种多功能的内存芯片复用测试座的制作方法

1.本实用新型涉及测试座技术领域，具体为一种多功能的内存芯片复用测试座。


背景技术：

2.随和科学技术的飞速发展，人们生活水平的进步，芯片在电子方面的发展也越来越深，而芯片在出场使用前需要对芯片作测试以避免芯片不满足使用要求造成的不必要的损失，芯片测试座因此成为芯片生产过程中必不可少的配备装置。
3.现有的芯片测试座在使用时存在一定的弊端，首先芯片测试座不能够较为方便的完成对芯片在测试座上的压紧固定，不利于测试座的调节固定，容易造成测试的不准确，其次，往往只能够对单一的对应芯片进行测试，不能够对一定范围大小或不同形状的芯片进行测试，测试的范围较为单一，适用性范围较小，最后，芯片测试座不使用时用于检测的构件依然暴露于空气中，容易沾染灰尘等杂质，长此以往不利于对芯片进行检测，防尘的效果不够好，为此我们提出一种芯片测试座。


技术实现要素：

4.本实用新型的目的在于提供一种多功能的内存芯片复用测试座，设置了施压组件对芯片进行压紧固定，设置了除尘组件来避免灰尘沾染检测件，以解决上述背景技术中提出的问题。
5.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种多功能的内存芯片复用测试座，包括底座，所述底座上表面设置有定位组件，所述底座上表面对称开设有充电桩，所述充电桩上表面插接有充电座，所述充电座上表面固定连接有连接座，所述连接座上表面居中位置开设有凹槽，所述凹槽上表面对称设置有橡胶垫，所述底座上表面设置有转动组件，所述转动组件表面设置有施压组件，所述底座一侧设置有除尘组件，所述底座表面固定连接有开关。
6.优选的，所述底座靠近开关一侧分别设置有红色指示灯和绿色指示灯，所述底座远离开关一侧设置有电源，所述红色指示灯和绿色指示灯均与电源电性连接。
7.优选的，所述定位组件包括定位块和限位槽，所述底座上表面对称设置有限位槽，所述限位槽内部插接有定位块，所述定位块固定连接于连接座下表面。
8.优选的，所述转动组件包括转动座和转动架，所述底座上表面固定连接有转动座，所述转动座顶部转动连接有转动架，所述转动架下表面设置有施压组件。
9.优选的，所述施压组件包括滑动杆、弹簧、加压板和提手，所述滑动杆滑动连接于转动架下表面，所述滑动杆下表面固定连接有加压板，所述加压板与转动架之间固定连接有弹簧，所述加压板两侧对称设置有提手。
10.优选的，所述除尘组件包括连接套管、充气管、充气孔、导气管和出气孔，所述底座一侧固定连通有充气管，所述充气管一端转动连接有连接套管，所述底座上表面固定开设有充气孔，所述连接座下表面固定连通有与充气孔相匹配的导气管，所述凹槽内部等距阵
列有出气孔。
11.优选的，所述底座内固定连通有与充气管相匹配的电磁阀，所述开关与电磁阀电性连接，所述导气管插接于充气孔内部。
12.与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
13.1、本实用新型通过设置了施压组件，通过弹簧来对加压板施加压力，通过加压板来对芯片进行压紧固定，通过设置了转动组件，通过转动座和转动架的相互配合来调节加压板的角度和位置，更好的对芯片进行压紧固定，一定程度解决了芯片测试座不能够较为方便的完成对芯片在测试座上的压紧固定，不利于测试座的调节固定的问题；
14.2、本实用新型通过设置了连接座，通过定位块和限位槽的相互配合来使连接座便于更换，根据不同型号的芯片更换不同的连接座，从而使凹槽与芯片相匹配，一定程度解决了只能够对单一的对应芯片进行测试，不能够对一定范围大小或不同形状的芯片进行测试，测试的范围较为单一，适用性范围较小的问题；
15.3、本实用新型通过除尘组件，通过连接套管与外部压缩气体相连通，压缩气体通过喷气孔喷出对凹槽内的灰尘和杂质进行清除，避免灰尘沾染芯片，一定程度解决了芯片测试座不使用时用于检测的构件依然暴露于空气中，容易沾染灰尘等杂质，长此以往不利于对芯片进行检测的问题。
附图说明
16.图1为本实用新型的俯视结构示意图；
17.图2为本实用新型的左视结构示意图；
18.图3为本实用新型的立体结构示意图；
19.图4为本实用新型的施压组件立体结构示意图。
20.图中：1、底座；2、连接座；3、定位组件；301、定位块；302、限位槽；4、充电座；5、充电桩；6、凹槽；7、橡胶垫；8、转动组件；801、转动座；802、转动架；9、除尘组件；901、连接套管；902、充气管；903、充气孔；904、导气管；905、出气孔；10、施压组件；1001、滑动杆；1002、弹簧；1003、加压板；1004、提手；11、红色指示灯；12、绿色指示灯；13、开关。
具体实施方式
21.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
22.请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种多功能的内存芯片复用测试座，包括底座1，底座1上表面设置有定位组件3，定位组件3包括定位块301和限位槽302，底座1上表面对称设置有限位槽302，限位槽302内部插接有定位块301，定位块301固定连接于连接座2下表面。定位块301设置为铁块，限位槽302内壁具有磁性，通过磁力连接让定位块301与限位槽302充分固定，避免高压气体漏出，影响使用。
23.底座1上表面对称开设有充电桩5，充电桩5上表面插接有充电座4，充电座4上表面固定连接有连接座2，连接座2上表面居中位置开设有凹槽6，凹槽6上表面对称设置有橡胶
垫7，底座1上表面设置有转动组件8，转动组件8包括转动座801和转动架802，底座1上表面固定连接有转动座801，转动座801顶部转动连接有转动架802，转动架802下表面设置有施压组件10。转动组件8表面设置有施压组件10。转动架802调节到所需角度时，可以进行固定，将转动架802固定在所需角度。
24.施压组件10包括滑动杆1001、弹簧1002、加压板1003和提手1004，滑动杆1001滑动连接于转动架802下表面，滑动杆1001下表面固定连接有加压板1003，加压板1003与转动架802之间固定连接有弹簧1002，加压板1003两侧对称设置有提手1004。加压板1003底部设置有橡胶块，避免对芯片造成损坏。
25.底座1一侧设置有除尘组件9，除尘组件9包括连接套管901、充气管902、充气孔903、导气管904和出气孔905，底座1一侧固定连通有充气管902，充气管902一端转动连接有连接套管901，底座1上表面固定开设有充气孔903，连接座2下表面固定连通有与充气孔903相匹配的导气管904，凹槽6内部等距阵列有出气孔905。底座1内固定连通有与充气管902相匹配的电磁阀，开关13与电磁阀电性连接，导气管904插接于充气孔903内部。通过出气孔905喷出的高压气体对凹槽6内的灰尘进行清理，也可以通过高压气体将测试后的芯片从凹槽6内吹出，方便芯片的取出。
26.底座1表面固定连接有开关13。底座1靠近开关13一侧分别设置有红色指示灯11和绿色指示灯12，底座1远离开关13一侧设置有电源，红色指示灯11和绿色指示灯12均与电源电性连接。
27.在使用前，使用者先观察凹槽6的大小是否与待测试芯片相匹配，如果相匹配，则使用者可以通过提手1004向上拉动下加压板1003，加压板1003挤压弹簧1002收缩，之后再将相应的芯片放于凹槽6内，缓缓松开提手1004，弹簧1002挤压加压板1003，加压板1003加压芯片，使得芯片与凹槽6顶部的检测面相贴合，从而完成对芯片的固定，之后再对芯片进行检测，而如果凹槽6与待测试芯片不匹配，先旋转转动架802至一百八十度，然后使用者将连接座2从底座1上取出，之后再将与待测试芯片大小、形状相同的凹槽6与连接座2取出使得其下端的定位块301对应于限位槽302部位戳入放入，之后再将芯片放于凹槽6内，再旋转转动架802至原位即可开始对芯片进行测试，测试完成后，通过相应的红色指示灯11和绿色指示灯12观察出测试结果。在放入芯片之前按压开关13，开关13控制出气孔905喷出高压气体，对凹槽6进行清洁，避免芯片污染，在测试后也可以按压开关13，通过高压气体将芯片从凹槽6内顶出，方便取出芯片。
28.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。