一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺的制作方法

1.本实用新型涉及千分尺技术领域，具体涉及一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺。


背景技术：

2.千分尺又名螺旋测微器，是几何测量中常用的测量工具。千分尺通常由尺架、测砧、测微螺杆、螺纹轴套、固定套筒、微分筒、测力装置、锁紧装置组成。测砧和螺纹轴套分别固定于尺架相对两侧，测微螺杆螺纹连接于螺纹轴套可相对测砧前后移动，通过测定测砧与测微螺杆测量端的距离，可获得待测工件的尺寸。
3.常用千分尺测砧为横向安装的圆柱结构，在对t型轴、阶梯轴类零件的阶梯长度进行测量时，无法有效获取中心距离，只能通过测量阶梯边缘厚度获取测量值。测量宽度较小的台阶时，测砧无法获得有效的接触测量面。且对于多级阶梯零件测量而言，需连续多次测量计算获取完整尺寸，传统测砧多次测量容易导致较大数据误差。且许多阶梯零件端部是圆弧或锥面，阶梯上各点厚度不同，需要测量中心距离作为有效阶梯长度。通过传统测砧不能对零件进行平行定位，无法准确测量阶梯零件中心距离。
4.基于现有方法的不足，设计适用于测量轴类零件台阶长度的千分尺，具有重要的意义。


技术实现要素：

5.本实用新型提出一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺，可克服轴类零件的台阶长度不易测量的问题，可简化台阶长度测量操作。
6.为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本实用新型通过以下技术方案解决上述问题：
7.一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺，包括尺架、测砧、千分尺本体，所述测砧和千分尺本体分别固定于尺架两侧，测微螺杆安装于千分尺本体内可相对测砧滑动，所述测砧上端开设用于放置待测零件轴颈的v型通槽，v型通槽设置方向与测微螺杆轴线平行，测砧内端面与待测零件台阶端面配合限位，待测零件测量时轴线与测微螺杆轴线平行。
8.进一步的，所述v型通槽截面采用等腰三角形，v型角为60℃。
9.进一步的，所述测砧内端面与测微螺杆轴线的垂直度小于0.01。
10.本实用新型的优点与效果是：
11.本实用新型所述的一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺，采用v型通槽对待测轴零件的轴颈(与待测台阶相邻的小直径轴段)支撑，待测台阶端面与测砧内端面配合限位，调节测微螺杆使其与待测零件前端有效接触，可读数获得台阶段的精确长度。
12.通过v型通槽对轴颈定位，能对待测零件进行稳定支撑，并保证待测零件轴线与测微螺杆轴线平行，测量待测台阶的中心距离。测量待测台阶的中心距离，能克服端部圆弧或锥面零件台阶上各点厚度不同的问题，获得准确的测量数据。
附图说明
13.图1(a)为一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺结构示意图；
14.图1(b)为图1(a)中a处结构的左视图；
15.图2(a)为采用本实用新型测量圆球顶端的工作示意图；
16.图2(b)为图2(a)中b处结构的左视图；
17.图3为采用本实用新型测量顶尖的工作示意图；
18.图4为采用本实用新型测量阶梯轴的工作示意图。
19.图号标识：
20.1、尺架，2、测砧，21、v型通槽，3、千分尺本体，31、测微螺杆，4、待测零件。
具体实施方式
21.下面结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。
22.本实施例所述的一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺，如附图1(a)、(b)所示，主体包括尺架1、测砧2、千分尺本体3，测砧2和千分尺本体3分别固定于尺架1两侧，测微螺杆31螺纹安装于千分尺本体3内可相对测砧2前后滑动。
23.实施例中，测砧2本体为固定于尺架1一端的矩形砧体，砧体顶端开设横向的v型通槽21，槽孔方向与测微螺杆31运动方向相同。测砧2内端面为对台阶端面限位的定位面，定位面与测微螺杆31轴线的垂直度小于0.01，以保证千分尺的测量精度。v型通槽21截面为等腰三角形，v型通槽21设置方向与测微螺杆轴线平行。
24.测量时，将待测零件4的轴颈横向放置于v型通槽21内，测砧2内端面与待测台阶的端面配合限位，待测零件4的轴线与测微螺杆31轴线重合。
25.如附图2(a)、(b)所示，待测零件4为圆球顶端，圆球顶端横向放置于v型通槽21内，其轴颈与v型通槽21两侧三角边支撑配合，球头内侧的台阶端面与v型通槽21内端的定位面接触定位。调节测微螺杆31使其与待测零件4头端抵接，此时千分尺读数为圆球顶端的球头长度。
26.如附图3所示，待测零件4为顶尖，顶尖横向放置于v型通槽21内，其轴颈与v型通槽21两侧三角边支撑配合，尖头内侧的台阶端面与v型通槽21内端的定位面接触定位。顶尖尖端与调节测微螺杆31抵接，此时千分尺读数为顶尖头部长度。
27.如附图4所示，待测零件4为阶梯轴，阶梯轴横向放置于v型通槽21内，其轴颈与v型通槽21两侧三角边支撑配合，轴肩与v型通槽21内端的定位面接触定位。调节测微螺杆31使其阶梯轴端部抵接，此时千分尺读数为阶梯轴测量段长度。
28.以上结合附图对本实用新型的实施方式详细说明，但本实用新型不局限于所描述的实施方式。在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下对这些实施方式进行多种变化、修改、替换和变型仍落入本实用新型的保护范围内。


技术特征：
1.一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺，包括尺架(1)、测砧(2)、千分尺本体(3)，所述测砧(2)和千分尺本体(3)分别固定于尺架(1)两侧，测微螺杆(31)安装于千分尺本体(3)内可相对测砧(2)滑动，其特征在于：所述测砧(2)上端开设用于放置待测零件(4)轴颈的v型通槽(21)，v型通槽(21)设置方向与测微螺杆(31)轴线平行，测砧(2)内端面与待测零件(4)的台阶端面配合限位，待测零件(4)测量时轴线与测微螺杆(31)轴线平行。2.根据权利要求1所述的一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺，其特征在于：所述v型通槽(21)截面采用等腰三角形，v型角为60
°
。3.根据权利要求1所述的一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺，其特征在于：所述测砧(2)内端面与测微螺杆(31)轴线的垂直度小于0.01。

技术总结
本实用新型提供一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺，包括尺架、测砧、千分尺本体，所述测砧和千分尺本体分别固定于尺架两侧，测微螺杆安装于千分尺本体内可相对测砧滑动，所述测砧上端开设用于放置待测零件轴颈的V型通槽，V型通槽设置方向与测微螺杆轴线平行，测砧内端面与待测零件台阶端面配合限位，待测零件测量时轴线与测微螺杆轴线平行。本实用新型提出一种可测量轴类零件台阶长度的千分尺，可克服轴类零件的台阶长度不易测量的问题，可简化阶梯台阶长度测量操作。阶梯台阶长度测量操作。阶梯台阶长度测量操作。


技术研发人员：李小军
受保护的技术使用者：桂林量具刃具有限责任公司
技术研发日：2021.09.30
技术公布日：2022/3/8