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定位测试治具的制作方法

专利查询6月前  27

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1.本公开涉及治具技术领域,尤其涉及一种定位测试治具。


背景技术:

2.为了提高生产力、重复特定动作、或使工作更加精确,也为了保证产品的产能与质量,降低作业员的工作强度,降低工作的复杂程度,在各行各业生产过程中常使用各种各样的定位测试治具。
3.定位测试治具通常包括调节模组以及驱动件等,驱动件用于驱动调节模组朝向测试元件的方向移动并与测试元件进行插接试验,然而当需要对调节模组进行调节时,需要操作人员手动拽出调节模组并拽住调节模组进行调节,使得调试操作费时费力。


技术实现要素:

4.为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题,本公开提供了一种定位测试治具。
5.本公开提供了一种定位测试治具,包括治具本体、调节模组、驱动件、限位块以及辅助调节组件;
6.所述调节模组及所述限位块均设于所述治具本体上,所述治具本体上形成有用于放置测试元件的承载面;
7.所述限位块设于所述驱动件的一端用于抵顶在所述测试元件上,所述调节模组设于所述驱动件的另一端且与所述驱动件传动连接,以使得所述调节模组在所述驱动件的驱动下朝向靠近所述测试元件的方向移动,以使得所述调节模组与所述测试元件插接配合;
8.所述辅助调节组件设于所述治具本体上且位于所述调节模组的一侧,所述辅助调节组件用于与所述调节模组可分离式连接,以使得所述测试元件与所述调节模组脱离插接时限制所述调节模组朝向靠近所述测试元件的方向移动。
9.根据本公开的一种实施例,所述辅助调节组件包括固定于所述治具本体上的连接座以及与所述连接座可转动连接的卡接件,所述调节模组上形成有用于与所述卡接件配合的卡槽,以使得所述测试元件与所述调节模组脱离插接时,所述卡接件卡接至所述卡槽内以限制所述调节模组朝向靠近所述测试元件的方向移动。
10.根据本公开的一种实施例,所述卡接件上形成有滑槽,所述连接座上与所述滑槽对应的位置形成有定位孔,限位件依次贯穿所述滑槽与所述定位孔,以使得所述连接座与所述卡接件可转动连接。
11.根据本公开的一种实施例,所述治具本体上设置有治具平台,所述治具平台上形成所述承载面,所述测试元件设于所述治具平台上用于与所述调节模组匹配。
12.根据本公开的一种实施例,所述调节模组包括测试接头以及调节模块,所述测试接头设于所述调节组件上,所述调节模块设于所述治具本体上,所述调节模块用于调节所述测试接头的位置以与所述测试元件匹配。
13.根据本公开的一种实施例,所述调节模块包括第一滑块以及第二滑块,所述第一滑块设于所述治具本体上且可沿所述治具本体的长度方向移动以使得所述测试接头靠近或远离所述测试元件;
14.所述第二滑块设于所述第一滑块上且与所述第一滑块可滑动连接,所述测试接头设于所述第二滑块上,以使得所述第二滑块相对于所述第一滑块沿所述治具本体的宽度方向移动以改变所述测试接头的水平位置。
15.根据本公开的一种实施例,所述第二滑块包括第一子滑块以及第二子滑块,所述第一子滑块与所述第一滑块可滑动连接,所述第二子滑块与所述第一子滑块可滑动连接,所述测试接头设于所述第二子滑块上,以使得所述第二子滑块相对于所述第一子滑块沿所述治具本体的高度方向移动以改变所述测试接头的高度位置。
16.根据本公开的一种实施例,所述调节模组还包括测试连接块,所述测试连接块设于所述第二子滑块的一侧,所述测试接头设于所述测试连接块上;且所述测试连接块与所述第二子滑块之间设置有弹性件。
17.根据本公开的一种实施例,所述测试元件为电子终端或与所述电子终端轮廓一致的仿形终端;
18.所述电子终端、所述仿形终端靠近所述调节模组的一侧设置有与所述调节模组可插接配合的插孔。
19.根据本公开的一种实施例,所述仿形模块靠近所述治具本体的一侧设置有定位件,所述治具本体上与所述定位件对应的位置形成有定位孔,所述仿形模块通过所述定位件与所述定位孔的配合固定在所述治具本体上。
20.本公开实施例提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点:
21.本公开提供了一种定位测试治具,包括治具本体、调节模组、驱动件、限位块以及辅助调节组件;调节模组及限位块均设于治具本体上,治具本体上形成有用于放置测试元件的承载面;限位块设于驱动件的一端用于抵顶在测试元件上,调节模组设于驱动件的另一端且与驱动件传动连接,以使得调节模组在驱动件的驱动下朝向靠近测试元件的方向移动,以使得调节模组与测试元件插接配合;辅助调节组件设于治具本体上且位于调节模组的一侧,辅助调节组件用于与调节模组可分离式连接,以使得测试元件与调节模组脱离插接时限制调节模组朝向靠近测试元件的方向移动,以避免现有技术中需要操作人员手动拽住调节模组导致操作不便,且费时费力的问题。
附图说明
22.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。
23.为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,对于本领域普通技术人员而言,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
24.图1为本公开的定位测试治具的立体结构示意图;
25.图2为本公开的定位测试治具处于调试步骤一时的结构示意图;
26.图3为本公开的定位测试治具处于调试步骤二时的结构示意图;
27.图4为本公开的定位测试治具处于调试步骤三时的结构示意图;
28.图5为本公开的定位测试治具处于调试步骤四时的结构示意图;
29.图6为本公开的定位测试治具的调节模组的局部结构示意图;
30.图7为本公开的定位测试治具的辅助调节组件的局部结构示意图。
31.其中,1、治具本体;11、治具平板;12、支撑件;13、治具平台;14、连接件;15、定位孔;2、调节模组;21、卡槽;22、测试接头;23、调节模块;231、第一滑块;232、第二滑块;2321、第一子滑块;2322、第二子滑块;24、测试连接块;25、弹性件;3、驱动件;4、测试元件;41、插孔;5、限位块;6、辅助调节组件;61、连接座;62、卡接件;621、滑槽;63、限位件。
具体实施方式
32.为了能够更清楚地理解本公开的上述目的、特征和优点,下面将对本公开的方案进行进一步描述。需要说明的是,在不冲突的情况下,本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
33.在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本公开,但本公开还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施;显然,说明书中的实施例只是本公开的一部分实施例,而不是全部的实施例。
34.如图1至图7所示,本公开提供了一种定位测试治具,包括治具本体1、调节模组2、驱动件3、限位块5以及辅助调节组件6;调节模组2及限位块5均设于治具本体1上,治具本体1上形成有用于放置测试元件4的承载面;限位块5设于驱动件3的一端用于抵顶在测试元件4上,调节模组2设于驱动件3的另一端且与驱动件3传动连接,以使得调节模组2在驱动件3的驱动下朝向靠近测试元件4的方向移动,以使得调节模组2与测试元件4插接配合;辅助调节组件6设于治具本体1上且位于调节模组2的一侧,辅助调节组件6用于与调节模组2可分离式连接,以使得测试元件4与调节模组2脱离插接时限制调节模组2朝向靠近测试元件4的方向移动,以避免现有技术中需要操作人员手动拽住调节模组2导致操作不便,且费时费力的问题。
35.具体的,治具本体1包括如图1、图2所示的治具平板11以及设于治具平板11底部的支撑件12,且支撑件12为多个,多个支撑件12沿治具平板11的底部的周向间隔设置为多个,用于支撑治具平板11上设置的调节模组2、辅助调节组件6等。治具平板11的上方设置有用于放置或安装测试元件4的治具平台13,治具平台13底部设置有多个连接件14以将治具平台13支撑在治具平板11上。
36.对于定位测试治具的调试过程可以参阅图2至图5所示。
37.首先,如图2所示,在调试前,即在调试步骤一时,此时操作人员先手动将调节模组2沿远离测试元件4的方向拉至治具平台13的左端,此时调节模组2与测试元件4之间具有距离,且此时测试元件4尚未安装或放置在治具平台13上。并且此步骤中,将辅助调节组件6与调节模组2连接。本实施例中,驱动件3为笔型气缸。
38.然后,如图3所示,进入调试步骤二,此时将测试元件4放置或安装在治具平台13上以便后续与调节模组2进行插接配合测试。
39.接下来,如图4所示,进入调试步骤三,此时启动驱动件3,且拉动限位块5沿靠近测试元件4的方向移动并抵住测试元件4,而由于辅助调节组件6与调节模组2连接从而可以限
制调节模组2朝向靠近测试元件4的方向移动,从而避免现有技术中需要操作人员手动拽住调节模组2,使得整个调试操作不便的问题。
40.最后,如图5所示,进入调试步骤四,操作人员手动解除调节模组2与辅助调节组件6的连接,使得调节模组2与辅助调节组件6之间分离,此时可以使得调节模组2沿靠近测试元件4的方向移动并与测试元件4进行插接配合测试,以根据测试过程和结果调节该调节模组2的位置以及高度等,从而完成定位测试治具的调试。
41.如图1至图5、图7所示,辅助调节组件6包括固定于治具本体1上的连接座61以及与连接座61可转动连接的卡接件62,调节模组2上形成有用于与卡接件62配合的卡槽21,以使得测试元件4与调节模组2脱离插接时,即在调试步骤三时,此时限位块5对测试元件4进行抵顶,而调节模组2需要保持不动,此时可以将卡接件62卡接至卡槽21内以限制调节模组2移动。
42.如图1所示,连接座61包括第一连接板以及第二连接板,第一连接板与第二连接板连接且呈l型结构,第一连接板平行于治具本体1且与治具本体1之间通过紧固件连接。紧固件可以为螺栓或者螺钉等。本实施例中,第一连接板以及第二连接板一体成型,以节省加工工艺。
43.如图1所示,卡接件62为跑道形的板状件,卡接件62上形成有滑槽621,连接座61上与滑槽621对应的位置形成有定位孔,限位件件63依次贯穿滑槽621与定位孔,以使得连接座61与卡接件62可转动连接。限位件63比如可以为定位销或者定位螺杆等。
44.如图7所示,为了避免卡接件62卡接在卡槽21内时,由于驱动件3等振动导致的卡接件62卡死在卡槽21内,使得卡接件62难以从卡槽21中移出,本实施例中,可以设置卡接件62具有一定的斜度,即卡接件62设置在卡槽21内后,卡接件62与卡槽21之间相对倾斜使得二者之间不完全接触,具体的卡接件62设于卡槽21内后的倾斜角度可以根据实际需要设定。
45.如图5所示,当进入步骤四,调节模组2与测试元件4之间进行插接配合进行测试时,若调节模组2与测试元件4之间的插接配合存在偏差时则需要对调节模组2的位置(比如沿着治具本体1的宽度、长度方向上的位置或者沿着治具本体1的高度方向的位置)进行调整,即调节模组2可以实现沿治具本体1的长度、宽度和高度三个方向上的小幅度调节,使得调节模组2与测试元件4之间插接时能够配合避免出现位置偏差。
46.本实施例中,调节模组2包括测试接头22以及调节模块23,测试接头22设于调节模块23上,调节模块23设于治具本体上1,调节模块23用于调节测试接头22的位置以与测试元件4匹配,测试接头22比如为如图1所示的usb接头。
47.如图1至图5所示,对于测试接头22在治具本体1的长度、宽度以及高度方向上的位置调节的结构,具体为调节模块23包括第一滑块231以及第二滑块232,第一滑块231设于治具本体1上且可沿治具本体1的长度方向移动以使得测试接头22沿靠近或远离测试元件4的方向移动以进行插接配合测试,且通过第一滑块231沿着治具本体1的长度方向移动可以改变测试接头22在治具本体1的长度方向上的位置;第二滑块232设于第一滑块231上且与第一滑块231可滑动连接,测试接头22设于第二滑块232上,以使得测试接头22与测试元件4之间存在宽度方向的位置偏差时,通过使得第二滑块232相对于第一滑块231沿治具本体1的宽度方向移动以改变测试接头22在治具本体1的宽度方向上的位置。
48.具体的,第一滑块231上与第二滑块232的滑动处可以设置第一滑动部,第二滑块232上与第一滑动部231对应的位置形成有第二滑动部,以使得第一滑块231和第二滑块232之间通过第一滑动部与第二滑动部的滑动配合实现相对滑动。且第一滑动部和第二滑动部的相对滑动方向为沿着治具本体1的宽度方向,以使得第一滑块231和第二滑块231之间通过第一滑动部与第二滑动部的滑动配合实现测试接头22在治具本体1的宽度方向上的位置可变。
49.本实施例中,第一滑动部可以为滑槽,第一滑动部为与滑槽配合的滑块;或者第一滑动部为滑块,第二滑动部为与滑块配合的滑槽。
50.如图1至图5所示,对于测试接头22在治具本体1的高度方向上的位置调节的结构,具体为第二滑块232包括第一子滑块2321以及第二子滑块2322,第一子滑块2321与第一滑块231可滑动连接,第二子滑块2322与第一子滑块2321可滑动连接,测试接头22设于第二子滑块2322上,以使得测试接头22与测试元件4之间存在高度方向的位置偏差时,通过使得第二子滑块2322相对于第一子滑块2321沿治具本体1的高度方向移动以改变测试接头22的高度位置。
51.具体的,第一子滑块2321上与第二子滑块2322的滑动处可以设置第三滑动部,第二子滑块2322上与第三滑动部对应的位置形成有第四滑动部,以使得第一子滑块2321和第二子滑块2322之间通过第三滑动部与第四滑动部的滑动配合实现相对滑动。且第三滑动部和第四滑动部的相对滑动方向为沿着治具本体1的高度方向,以使得第一子滑块2321和第二子滑块2322之间通过第三滑动部与第四滑动部的滑动配合实现测试接头22在治具本体1的高度方向上的位置可变。
52.本实施例中,第三滑动部可以为滑槽,第四滑动部为与滑槽配合的滑块;或者第三滑动部为滑块,第四滑动部为与滑块配合的滑槽。
53.如图1至图6所示,调节模组2还包括测试连接块24,测试连接块24设于第二子滑块2322的一侧,测试接头22设于测试连接块24上;且测试连接块24与第二子滑块2322之间设置有弹性件25,弹性件25可以设置为多个,比如设置两个,两个弹性件25用于使得测试接头22可与测试元件4之间软连接,使得测试接头22插入测试元件4的插孔41时不会那么生硬,使得带有一定适应性以降低插接时对测试元件4的损伤。
54.示例性的,弹性件25可以为弹簧等具有弹性压缩性能以及弹性恢复性能的部件。
55.如图1、图3至图5所示,为了避免直接采用手机等电子终端作为测试元件4,从而对手机等造成损伤,本实施例中,测试元件4可以采用与电子终端外形一致或者相似的仿形模块,仿形模块上设置与测试接头22插接配合的插孔41,从而用于与测试接头22配合进行插接测试,以用于根据测试结果调节该调节模组2的位置或者高度,以完成定位测试治具的调试。
56.为了使得采用仿形模块可以保证定位测试治具的定位测试过程中的调节模组2的调节一致性,可以使得仿形模块与治具平台13之间相对固定,即二者不会发生相对位移。具体的,仿形模块靠近治具本体1的一侧设置有定位件,治具本体1上与定位件对应的位置形成有定位孔15,仿形模块通过定位件与定位孔15的配合固定在治具本体1上。定位件具体而可以为定位销或者定位螺杆,定位孔15为与定位销或定位螺杆配合的销孔或者螺孔。
57.需要说明的是,在本文中,诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一
个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个
……”
限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
58.以上所述仅是本公开的具体实施方式,使本领域技术人员能够理解或实现本公开。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本公开的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本公开将不会被限制于本文所述的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

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