射频测试装置的制作方法

1.本公开涉及产品测试技术领域，尤其涉及一种射频测试装置。


背景技术：

2.目前在移动通讯等设备的测试中例如手机，通常是将射频测试装置与手机主板上的射频开关连接，用于评估从天线传输的数据的完整性，从而使设计师或试验工程师确定手机中的天线工作是否正确无误。
3.射频测试装置包括测试本体和测试线，该测试本体的一端具有测试探针，该测试本体的另一端和测试线通过公头和母头可插拔地连接在一起；测试时，测试本体在外力的作用下会沿朝向靠近待测射频开关的方向即沿测试本体的轴向移动，以使测试探针与待测射频开关的弹片接触，进而使测试探针与测试线电连接。
4.然而，在测试过程中，由于测试本体会沿其轴向移动，导致公头和母头之间容易脱离，从而导致测试工作不能正常进行。


技术实现要素：

5.为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本公开提供了一种射频测试装置。
6.本公开提供了一种射频测试装置，包括测试本体以及测试线；所述测试本体的一端具有用于与待测射频开关接触以对所述待测射频开关进行测试的测试探针，所述测试本体的另一端具有第一连接部；所述测试线的靠近所述测试本体的一端具有第二连接部，所述第二连接部可与所述第一连接部插接，以使所述测试探针与所述测试线电连接；
7.所述测试本体和所述测试线之间还设置有锁紧结构，所述锁紧结构用于在所述第一连接部和所述第二连接部插接时，防止所述测试线和所述测试本体松脱。
8.进一步地，所述锁紧结构包括第一锁紧部以及与所述第一锁紧部匹配的第二锁紧部；所述第一锁紧部设置在所述测试线的靠近所述测试本体的一端上，所述第二锁紧部设置在所述测试本体的另一端上，所述第一锁紧部用于在所述第一连接部和所述第二连接部插接时，与所述第二锁紧部锁紧。
9.进一步地，所述第一锁紧部包括插杆以及设置在所述插杆上的卡帽，所述插杆固定在所述测试线的靠近所述测试本体的一端上；所述第二锁紧部包括与所述插杆匹配的插槽以及与所述卡帽匹配的卡孔，所述插槽设置在所述测试本体的另一端上，所述卡孔开设在所述插槽的槽壁上；所述插杆伸入至所述插槽内时，所述卡帽与所述卡孔卡接，以将所述测试线和所述测试本体锁紧。
10.进一步地，所述插杆至少为两个，至少两个所述插杆沿所述测试线的周向间隔设置在所述测试线的靠近所述测试本体的一端上；所述插槽至少为两个，至少两个所述插槽沿所述测试本体的周向间隔设置在所述测试本体的另一端上，一个所述插杆对应一个所述插槽。
11.进一步地，所述测试本体的另一端上设置有固定块，所述插槽开设在所述固定块上，所述卡孔为开设在所述固定块的远离所述测试本体一面上的通孔。
12.进一步地，所述测试本体的侧壁上还设置有推杆，所述推杆对应所述卡孔的位置处设置有与所述卡孔匹配的推块；所述推杆可沿朝向靠近所述测试本体的方向移动，以使所述推块伸入至所述卡孔中，以将所述卡孔内的所述卡帽推出。
13.进一步地，所述测试本体的具有所述测试探针的一端还设置有缓冲结构，所述缓冲结构用于固定所述待测射频开关。
14.进一步地，所述缓冲结构包括相对设置的第一连接板和第二连接板以及设置在所述第一连接板和所述第二连接板之间的伸缩杆；所述第一连接板围设在所述测试本体的外壁上，所述第二连接板上具有与所述待测射频开关匹配的避让孔，所述待测射频开关能够贯穿所述避让孔并与所述第二连接板可拆卸连接；所述伸缩杆的一端固定在所述第一连接板上，所述伸缩杆的另一端固定在所述第二连接板上，所述伸缩杆能够沿轴向移动，以使所述测试探针与所述待测射频开关可插拔地连接。
15.进一步地，所述缓冲结构还包括弹性件，所述弹性件的一端固定在所述第一连接板上，所述弹性件的另一端固定在所述第二连接板上；
16.所述弹性件围设在所述伸缩杆的外壁上。
17.进一步地，所述测试本体的外壁上设置有用于带动所述测试本体轴向移动的把手；所述把手为围设在所述测试本体外壁上的环形凸缘。
18.本公开实施例提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点：
19.本公开提供的射频测试装置，通过设置测试本体以及测试线，其中，测试本体的一端具有用于与待测射频开关接触以对待测射频开关进行测试的测试探针，测试本体的另一端具有第一连接部，测试线的靠近测试本体的一端具有第二连接部，第二连接部可与第一连接部插接，以使测试探针与测试线电连接；在测试本体和测试线之间还设置有锁紧结构，锁紧结构用于在第一连接部和第二连接部插接时，防止测试线和测试本体松脱。具体使用时，将第一连接部和第二连接部插设连接，即可将测试本体与测试线连接在一起，由于在测试本体和测试线之间还设置有锁紧结构，因此，测试线可以锁紧固定在测试本体上，也就是说，两者相对固定不会分离，基于此，当测试本体沿其轴向移动进行测试时，能够有效避免测试线与测试本体脱离的现象发生，从而使测试工作能够正常顺利地进行。
附图说明
20.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。
21.为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
22.图1为本公开实施例所述射频测试装置的结构示意图；
23.图2为本公开实施例所述射频测试装置的锁紧结构的局部示意图；
24.图3为图2中a部的放大图；
25.图4为本公开实施例所述射频测试装置的缓冲结构的局部示意图。
26.其中，1、测试本体；11、测试探针；12、第一连接部；2、测试线；21、第二连接部；3、锁紧结构；31、第一锁紧部；311、插杆；312、卡帽；32、第二锁紧部；321、插槽；322、卡孔；4、固定块；5、推杆；51、推块；6、缓冲结构；61、第一连接板；62、第二连接板；63、伸缩杆；64、弹性件；7、把手；8、待测射频开关；9、pcb板。
具体实施方式
27.为了能够更清楚地理解本公开的上述目的、特征和优点，下面将对本公开的方案进行进一步描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
28.在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本公开，但本公开还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施；显然，说明书中的实施例只是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。
29.参考图1至图4中所示，本实施例提供一种射频测试装置，包括测试本体1以及测试线2；测试本体1的一端具有用于与待测射频开关8接触以对待测射频开关8进行测试的测试探针11，测试本体1的另一端具有第一连接部12；测试线2的靠近测试本体1的一端具有第二连接部21，第二连接部21可与第一连接部12插接，以使测试探针11与测试线2电连接。
30.可以理解的是，测试本体1具有相对设置的测试端和连接端，测试探针11设置在测试本体1的测试端上，第一连接部12设置在测试本体1的连接端上。测试线2的靠近测试本体1的一端为测试线2的连接头，第二连接部21设置在测试线2的连接头上。具体使用时，将第一连接部12与第二连接部21插接，可以将测试线2的连接头和测试本体1的测试端连接在一起，即，将测试线2和测试本体1连接在一起，以使测试探针11与测试线2能够电连接。
31.在本实施例中，测试本体1可以是柱形杆、细长条的矩形杆等任意合适的结构，根据具体的使用环境可以任意选用，在此不做过多限制。
32.本领域技术人员容易理解的是，第一连接部12和第二连接部21中的一者是插头即公头，第一连接部12和第二连接部21中的另一者是与插头匹配的插孔即母头。优选地，第二连接部21为设置在连接头上的插头，第一连接部12为设置在连接端上的插孔。
33.可以理解的是，插孔可以是多个，多个插孔间隔设置在连接端上，与此同时，插头也可以是多个，多个插头间隔设置在连接头上，一个插头对应一个插头。
34.在本实施例中，测试本体1和测试线2之间还设置有锁紧结构3，即在连接端和连接头之间设置有锁紧结构3，锁紧结构3用于在第一连接部12和第二连接部21插接时，防止测试线2和测试本体1松脱。
35.可以理解的是，当第一连接部12和第二连接部21插设连接时，在锁紧结构3的作用下，测试线2的连接头即可锁紧固定在测试本体1的连接端上，即，测试线2锁紧固定在测试本体1上，从而在测试的过程中，测试线2与测试本体1始终相对固定，也就是说，当测试本体1沿其轴向移动进行测试时会带动测试线2同时移动，两者不会彼此脱离，进而使测试工作可以顺利正常地进行，用不体验好。
36.具体实现时，锁紧结构3可以是任意合适的结构，当测试本体1沿其轴向移动进行测试时，能够防止测试线2从测试本体1上脱离即可，在此不做过多限制。
37.通过上述技术方案，本实施例提供的射频测试装置，通过设置测试本体1以及测试
线2，其中，测试本体1的一端具有用于与待测射频开关8接触以对待测射频开关8进行测试的测试探针11，测试本体1的另一端具有第一连接部12，测试线2的靠近测试本体1的一端具有第二连接部21，第二连接部21可与第一连接部12插接，以使测试探针11与测试线2电连接；在测试本体1和测试线2之间还设置有锁紧结构3，锁紧结构3用于在第一连接部12和第二连接部21插接时，防止测试线2和测试本体1松脱。具体使用时，将第一连接部12和第二连接部21插设连接，即可将测试本体1与测试线2连接在一起，由于在测试本体1和测试线2之间还设置有锁紧结构3，因此，测试线2可以锁紧固定在测试本体1上，也就是说，两者相对固定不会分离，基于此，当测试本体1沿其轴向移动进行测试时，能够有效避免测试线2与测试本体1脱离的现象发生，从而使测试工作能够正常顺利地进行。
38.在本实施例中，锁紧结构3包括第一锁紧部31以及与第一锁紧部31匹配的第二锁紧部32；第一锁紧部31设置在测试线2的靠近测试本体1的一端上，第二锁紧部32设置在测试本体1的另一端上，第一锁紧部31用于在第一连接部12和第二连接部21插接时，与第二锁紧部32锁紧。
39.其中，第一锁紧部31和第二锁紧部32可以是任意合适的结构，在第一连接部12和第二连接部21插接时，能够将测试线2和测试本体1锁紧固定即可，在此不做过多限制。
40.示例性地，第一锁紧部31和第二锁紧部32中的一者为卡凸，第一锁紧部31和第二锁紧部32中的另一者为可供卡凸卡入的卡槽。具体使用时，将卡凸伸入至卡槽中，以将卡凸卡在卡槽中，测试线2即可锁紧固定在测试本体1上，结构简单，连接可靠稳定。
41.作为一种可选的实施方式，卡凸设置在连接端上，并沿远离连接端的方向延伸，卡槽设置在连接头上。
42.作为另一种可选的实施方式，卡凸设置在连接头上，并沿远离连接头的方向延伸，卡槽设置在连接端上。
43.参考图1和图2中所示，第一锁紧部31包括插杆311以及设置在插杆311上的卡帽312，插杆311固定在测试线2的靠近测试本体1的一端上；第二锁紧部32包括与插杆311匹配的插槽321以及与卡帽312匹配的卡孔322，插槽321设置在测试本体1的另一端上，卡孔322开设在插槽321的槽壁上；插杆311伸入至插槽321内时，卡帽312与卡孔322卡接，以将测试线2和测试本体1锁紧。
44.在此需要说明的是，卡帽312与连接头之间的距离不小于第二连接部21远离连接头的一端与连接头之间的距离，即卡帽312与连接头之间的距离不小于第二连接部21沿测试线2轴向的延伸尺寸，如此设计，可以保证第一连接部12和第二连接部21插设到位时卡帽312与卡孔322卡接，或在第一连接部12和第二连接部21插设到位之后卡帽312与卡孔322卡接，从而可以保证测试时测试本体1与测试线2能够电性导通。
45.在本实施例中，卡凸可以是一个，与此同时，卡槽也是一个。当然，卡凸也可以是至少两个，即卡凸为多个，当卡凸为多个时，多个卡凸沿连接头的周向间隔设置；对应地，卡槽也是至少两个，即，卡槽为多个，多个卡槽沿连接端的周向间隔设置，一个卡凸对应一个卡槽。
46.可以理解的是，插杆311至少为两个，至少两个插杆311沿测试线2的周向间隔设置在测试线2的靠近测试本体1的一端上，即至少两个插杆311沿测试线2的周向间隔设置在连接头上；插槽321至少为两个，至少两个插槽321沿测试本体1的周向间隔设置在测试本体1
的另一端上，即至少两个插槽321沿测试本体1的周向间隔设置在连接端上，一个插杆311对应一个插槽321。
47.其中，插杆311可以是任意合适的形状，例如柱形插杆、方形插杆等，对应地，插槽321是与插杆311匹配的柱形插槽、方形插槽等。
48.可以理解的是，插槽321可以直接开设在连接端上，优选地，参考图2中所示，在测试本体1的另一端上设置有固定块4，即在连接端的侧壁上设置有固定块4，插槽321开设在固定块4上，卡孔322为开设在固定块4的远离测试本体1一面上的通孔，此时，参考图2中所示，插杆311形成为l形插杆311。
49.具体实现时，固定块4可以通过结构胶、螺栓连接等方式固定在连接端的侧壁上，当然，固定块4也可以与连接端一体成型，整体性好，强度高。
50.其中，固定块4可以是一个围设在连接端外壁上的环形固定块4，在该环形固定块4对应卡凸的位置处开设有卡槽。当然，固定块4也可以是多个，一个固定块4上开设有一个卡槽，多个固定块4沿连接端的周向间隔设置在连接端上。
51.在本实施例中，为了方便拆卸，在测试本体1的测试上还设置有推杆5，即在连接端上还设置有推杆5，推杆5对应卡孔322的位置处设置有与卡孔322匹配的推块51；推杆5可沿朝向靠近测试本体1的方向移动，以使推块51伸入至卡孔322中，以将卡孔322内的卡帽312推出，即将卡帽312从卡孔322内移出。
52.可以理解的是，推杆5可以是任意合适的材质制成的弹性推杆5，当沿朝向靠近连接端的方向挤压弹性推杆5，推块51能够伸入至卡孔322内以将卡孔322内的卡帽312移出，即推块51将卡孔322内的卡帽312推进至卡槽内。当作用在弹性推杆5上的外力取消时，弹性推杆5在自身弹性力的作用下沿朝向远离连接端的方向移动至恢复原位，此时推块51在弹性力在作用下会从卡孔322内拔出。
53.其中，推杆5可以形成为任意合适的形状，例如l形、弧形等。
54.另外，推杆5的至少部分外表面上设置有防滑结构，例如防滑纹、防滑凹槽、防滑凸点等。
55.具体使用时，将推杆5沿朝向靠近连接端的方向移动，即挤压推杆5，此时，推杆5推动推块51沿朝向靠近连接端的方向移动，推块51可将卡孔322内的卡帽312推进至卡槽内，从而插杆311可以自由地从卡槽内抽出，进而方便将测试线2从测试本体1上拆卸下来。
56.根据一些实施例，也可以手工或借助辅助工具将卡帽312从卡孔322内推出至卡槽内，以方便插杆311从插槽321内自由地抽出。
57.在本实施例中，测试本体1的具有测试探针11的一端，即测试本体1的测试端，还设置有缓冲结构6，缓冲结构6用于固定待测射频开关8。
58.可以理解的是，当测试线2和测试本体1通过公头和母头连接在一起时，连接端和测试端具备电导通性能，换句话说，当测试线2和测试本体1通过公头和母头连接在一起时，测试线2和测试本体1形成一个可供电信号传输的一个通路。
59.本领域普通技术人员容易理解的是，在进行测试前，待测射频开关8已经和电路板连接在一起，即电路板和待测射频开关8是一个整体结构，从而方便将两者一起可拆卸地连接在缓冲结构6上进行测试。
60.在本实施例中，缓冲结构6设置在测试本体1的测试端上，测试时，将待测射频开关
8安装在缓冲结构6上即可，测试完成后，将测试完成的射频开关从缓冲结构6上拆卸下来，以便将新的待测射频开关8安装在缓冲结构6上。
61.可以理解的是，当测试探针11与待测射频开关8内的弹片接触时，如果电信号能够通过测试探针11、测试本体1、测试线2输出即可认为该待测射频开关8合格，否则不合格。
62.进一步地，参考图1和图2中所示，缓冲结构6包括相对设置的第一连接板61和第二连接板62以及设置在第一连接板61和第二连接板62之间的伸缩杆63；第一连接板61围设在测试本体1的外壁上，第二连接板62上具有与待测射频开关8匹配的避让孔，待测射频开关8能够贯穿避让孔并与第二连接板62可拆卸连接；伸缩杆63的一端固定在第一连接板61上，伸缩杆63的另一端固定在第二连接板62上，伸缩杆63能够沿轴向移动，以使测试探针11与待测射频开关8可插拔地连接。
63.具体实现时，将待测射频开关8和电路板固定在缓冲结构6上之后，测试探针11与待测射频开关8可插拔地连接，以使测试线2与电路板电性连接。
64.可以理解的是，当待测射频开关8安装在第二连接板62上时，测试探针11和待测射频开关8之间具有安全间隙。具体进行测试时，将测试本体1沿朝向靠近待测射频开关8的方向移动，此时，伸缩杆63压缩，测试探针11插接在待测射频开关8中并与待测射频开关8的弹片接触导通；测试完成后，将测试本体1沿朝向远离待测射频开关8的方向移动，此时，伸缩杆63逐渐恢复自然长度，测试探针11与待测射频开关8分离，从而方便将待测射频开关8从第二连接板62上拆卸下来，重新安装一个新的待测射频开关8进行检测。
65.在本实施例中，伸缩杆63的收缩长度和测试头本体以及测试探针11的最大位移量相关。
66.具体实现时，第一连接板61可以通过结构胶粘接等方式固定在测试本体1的外壁上，当然，第一连接板61也可以与测试本体1一体成型，根据具体的使用环境可以任意选用，在此不做过多限制。
67.进一步地，参考图4中所示，伸缩杆63至少为两个，至少两个伸缩杆63沿周向间隔布置在第一连接板61和第二连接板62之间。
68.在此需要说明的是，此处的周向既可以是第一连接板61的周向，也可以是第二连接板62的周向，还可以是第一连接板61和第二连接板62围合形成的空间的周向。
69.具体实现时，第一连接板61和第二连接板62在伸缩杆63的作用下，能够沿彼此靠近或者彼此远离的方向移动，以使测试探针11与待测射频开关8可插拔地连接。
70.在本实施例中，缓冲结构6还包括弹性件64，弹性件64的一端固定在第一连接板61上，弹性件64的另一端固定在第二连接板62上。
71.可以理解的是，在进行测试时，测试本体1的轴向移动会挤压伸缩杆63和弹性件64，使伸缩杆63和弹性件64被压缩，通过弹性件64的弹力，在测试本体1的轴向移动过程中可以起到一定的缓冲作用，从而可以避免测试本体1过度移动而使测试探针11过度移动导致挤压损坏待测试射频开关内的弹片的现象发生。
72.弹性件64可以设置在第一连接板61和第二连接板62之间的任意合适的位置处，能够起到缓冲作用，避免测试探针11过度移动即可。优选地，弹性件64围设在伸缩杆63的外壁上，如此设计，弹性件64对于伸缩杆63还具有限位导向作用，可以有效避免伸缩杆63在伸缩的时候沿伸缩杆63的周向晃动。
73.可以理解的是，在部分伸缩杆63的外壁上可以围设有弹性件64，当然，也可以在各伸缩杆63的外壁上均围设有弹性件64。一般地，当伸缩杆63处于自然伸长状态时，弹性件64也处于自然伸长状态，当伸缩杆63被压缩时，弹性件64也被压缩。
74.其中，弹性件64可以是弹簧、弹性绳等任意合适的结构。
75.在本实施例中，在测试本体1的外壁上设置有把手7，把手7用于握持，以推动测试本体1沿其轴向移动。
76.其中，把手7可以形成为任意合适的结构，例如凸块。优选地，参考图1和图2中所示，把手7为围设在测试本体1外壁上的环形凸缘。
77.另外，把手7可以通过结构胶粘接、螺栓连接等方式固定在测试本体1的任意合适的位置处，当然，把手7也可以与测试本体1一体成型，整体性好，强度高。根据具体的使用工况可以任意选用，在此不做过多限制。
78.进一步地，为了方便握持，可以在把手7上或者把手7的部分外表面上设置防滑结构，例如防滑凸点、防滑凹槽、防滑纹等。当然，也可以在把手7的外表面上套设一个橡胶套。
79.需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
80.以上所述仅是本公开的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本公开。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本公开的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本公开将不会被限制于本文所述的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。