1.本发明属于偏移参数确定技术领域,具体涉及一种偏移参数确定方法。
背景技术:
2.通常,在采用电火花小孔加工工艺、在燃烧室零件上加工多个阵列孔时,可以先根据每个阵列孔的加工参数,确定该每个阵列孔的位置,然后再根据该每个阵列孔的位置,分别进行多个阵列孔的加工操作。
3.但是,由于可能会出现多个阵列孔对应的工件发生变形的情况,这样会导致每个阵列孔的加工参数不准确的情况。
4.因此,导致加工阵列孔的精度较差。
技术实现要素:
5.本发明实施例的目的是提供一种偏移参数确定方法,能够解决加工阵列孔的精度较差的问题,保证工阵列孔的加工精度。
6.为了解决上述技术问题,本发明是这样实现的:
7.一种偏移参数确定方法,所述方法包括:
8.将所述n个阵列孔对应的工件放置于工作台上,并控制所述工作台按照m个运动参数值运动;
9.在所述工作台运动的过程中,获取m个运动参数值的偏移值,并分别根据所述m个运动参数值和所述m个运动参数值的偏移值,建立所述m个运动参数值与运动参数值的偏移值之间的对应关系;所述对应关系中,每个运动参数值与该运动参数值的偏移值对应;
10.获取n个阵列孔对应的n个第一参数值和n个第二参数值,每个阵列孔分别对应一个第一参数值,每个阵列孔分别对应一个第二参数值;其中,第一参数值用于表征工作台的转动角度,第二参数值用于表征一个阵列孔距离转动中心间的距离,n为正整数;
11.基于m个对应关系,根据n个阵列孔的目标参数值,分别确定n个阵列孔分别对应的偏移值,每个对应关系分别为一个参数值和一个偏移值之间的对应关系,每个目标参数值包括一个第一参数值和一个第二参数值中的至少一个;一个目标参数值对应一个偏移值,m为正整数;
12.基于所述n个偏移值和n个第二参数值,分别确定n个第三参数值,一个偏移值对应一个第三参数值,一个第二参数值对应一个第三参数值,一个第三参数值为:一个偏移值与对应的第二参数值之和。
13.优选的,所述一个目标参数值为一个第二参数值;
14.所述基于m个对应关系,根据n个目标参数值,分别确定n个偏移值,包括:
15.根据所述n个目标参数值中的第i个目标参数值,从所述m个对应关系中的m个运动参数值中,确定与所述第i个目标参数值相匹配的第三参数值,i为正整数;
16.将所述第三参数值对应的偏移值,确定为第i个偏移值;
17.其中,所述第i个偏移值对应所述第i个目标参数值。
18.优选的,所述一个目标参数值包括一个第一参数值和一个第二参数值;
19.所述基于m个对应关系,根据n个目标参数值,分别确定n个偏移值,包括:
20.根据所述n个目标参数值中的第i个第一参数值,从所述m个对应关系中的m个运动参数值中,确定与所述第i个第一参数值对应的第四参数值和第五参数值,i为正整数;
21.基于所述第五参数值对应的偏移值和所述第四参数值对应的偏移值,确定第i个偏移值;
22.其中,所述第四参数值小于所述第i个第一参数值,所述第五参数值大于所述第i个第一参数值;
23.所述第i个偏移值对应所述第i个第一参数值,所述第i个偏移值对应第i个第二参数值。
24.优选的,所述基于所述第四参数值对应的偏移值和所述第五参数值对应的偏移值,确定第i个偏移值,包括:
25.根据所述第五参数值和所述第四参数值间的差值,确定第一数值;
26.根据所述第五参数值对应的偏移值和所述第四参数值对应的偏移值间的差值,确定第二数值;
27.根据所述第四参数值和所述第i个第一参数值,确定第三数值;
28.根据所述第四参数值对应的偏移值、所述第一数值、所述第二数值和所述第三数值,确定所述第i个偏移值。
29.本发明还提供了一种偏移参数确定装置,所述偏移参数确定装置包括:控制模块、获取模块和确定模块;
30.所述控制模块,用于将所述n个阵列孔对应的工件放置于工作台上,并控制所述工作台按照m个运动参数值运动;
31.所述获取模块,用于在所述工作台运动的过程中,获取m个运动参数值的偏移值,并分别根据所述m个运动参数值和所述m个运动参数值的偏移值,建立所述m个运动参数值与运动参数值的偏移值之间的对应关系;所述对应关系中,每个运动参数值与该运动参数值的偏移值对应;获取n个阵列孔对应的n个第一参数值和n个第二参数值,每个阵列孔分别对应一个第一参数值,每个阵列孔分别对应一个第二参数值;其中,第一参数值用于表征工作台的转动角度,第二参数值用于表征一个阵列孔距离转动中心间的距离,n为正整数;
32.所述确定模块,用于基于m个对应关系,根据n个阵列孔的目标参数值,分别确定n个阵列孔分别对应的偏移值,每个对应关系分别为一个参数值和一个偏移值之间的对应关系,每个目标参数值包括一个第一参数值和一个第二参数值中的至少一个;一个目标参数值对应一个偏移值,m为正整数;
33.基于所述n个偏移值和n个第二参数值,分别确定n个第三参数值,一个偏移值对应一个第三参数值,一个第二参数值对应一个第三参数值,一个第三参数值为:一个偏移值与对应的第二参数值之和。
34.优选的,所述一个目标参数值为一个第二参数值;
35.所述确定模块,具体用于根据所述n个目标参数值中的第i个目标参数值,从所述m个对应关系中的m个运动参数值中,确定与所述第i个目标参数值相匹配的第三参数值,i为
正整数;并将所述第三参数值对应的偏移值,确定为第i个偏移值;
36.其中,所述第i个偏移值对应所述第i个目标参数值。
37.优选的,所述一个目标参数值包括一个第一参数值和一个第二参数值;
38.所述确定模块,具体用于根据所述n个目标参数值中的第i个第一参数值,从所述m个对应关系中的m个运动参数值中,确定与所述第i个第一参数值对应的第四参数值和第五参数值,i为正整数;并基于所述第五参数值对应的偏移值和所述第四参数值对应的偏移值,确定第i个偏移值;
39.其中,所述第四参数值小于所述第i个第一参数值,所述第五参数值大于所述第i个第一参数值;
40.所述第i个偏移值对应所述第i个第一参数值,所述第i个偏移值对应第i个第二参数值。
41.优选的,所述确定模块,具体用于根据所述第五参数值和所述第四参数值间的差值,确定第一数值;再根据所述第五参数值对应的偏移值和所述第四参数值对应的偏移值间的差值,确定第二数值;并根据所述第四参数值和所述第i个第一参数值,确定第三数值;以及,根据所述第四参数值对应的偏移值、所述第一数值、所述第二数值和所述第三数值,确定所述第i个偏移值。
42.本发明还提供了一种工件加工方法,所述工件加工方法用于加工具有阵列孔的工件,在加工所述具有阵列孔的工件时,通过本发明如上所述的偏移参数确定方法确定n个第一参数值和n个第三参数值,根据所述n个第一参数值和n个第三参数值在工件上进行n个阵列孔的加工操作。
43.本发明还提供了一种电子设备,包括处理器,存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令,所述程序或指令被所述处理器执行时实现本发明如上所述的偏移参数确定方法的步骤。
44.本发明具有如下有益效果:
45.本发明中,偏移参数确定装置可以将n个阵列孔对应的工件放置于工作台上,并控制工作台按照m个运动参数值运动;并在工作台运动的过程中,获取m个偏移值,并分别根据m个运动参数值和所述m个偏移值,建立m个对应关系,从而可以获取n个阵列孔对应的n个第一参数值和n个第二参数值,并基于m个对应关系(每个对应关系分别为一个参数值和一个偏移值之间的对应关系),根据n个第一参数值(和/或一个第二参数值),分别确定n个偏移值,再基于该n个偏移值和n个第二参数值,分别确定n个第三参数值。由于在工作台运动的过程中,获取m个偏移值,并分别根据m个运动参数值和m个偏移值,建立m个对应关系,从而偏移参数确定装置可以先获取n个阵列孔的第一参数值和第二参数值,并基于m该对应关系,根据该n个阵列孔的第一参数值(和/或第二参数值),分别确定n个偏移值,以确定n个第三参数值,这样,偏移参数确定装置可以根据该n个第一参数值和该n个第三参数值,进行n个阵列孔的加工操作,因此,可以避免出现并未将加工电极对准刻线的情况,从而可以减小加工的阵列孔的误差,如此,可以提升加工阵列孔的精度。
附图说明
46.图1是本发明实施例提供的偏移参数确定方法的示意图之一;
47.图2是工作台与n个阵列孔对应的工件的示意图;
48.图3是本发明实施例提供的偏移参数确定方法的示意图之二;
49.图4是本发明实施例提供的偏移参数确定方法的示意图之三;
50.图5是本发明实施例提供的偏移参数确定装置的结构示意图;
51.图6为本发明实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
52.下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
53.本发明的说明书和权利要求书中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施,且“第一”、“第二”等所区分的对象通常为一类,并不限定对象的个数,例如第一对象可以是一个,也可以是多个。此外,说明书以及权利要求中“和/或”表示所连接对象的至少其中之一,字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
54.本发明为了解决现有技术中存在的问题,采用的方案如下:
55.第一方面,本发明提供了一种偏移参数确定方法,该方法包括:将n个阵列孔对应的工件放置于工作台上,并控制工作台按照m个运动参数值运动;在工作台运动的过程中,获取m个偏移值,并分别根据m个运动参数值和m个偏移值,建立m个对应关系;获取n个阵列孔对应的n个第一参数值和n个第二参数值,每个阵列孔分别对应一个第一参数值,每个阵列孔分别对应一个第二参数值,n为正整数;基于m个对应关系,根据n个目标参数值,分别确定n个偏移值,每个对应关系分别为一个参数值和一个偏移值之间的对应关系,一个目标参数值包括以下至少一项:一个第一参数值、一个第二参数值;一个目标参数值对应一个偏移值,m为正整数;基于n个偏移值和n个第二参数值,分别确定n个第三参数值,一个偏移值对应一个第三参数值,一个第二参数值对应一个第三参数值。
56.第二方面,本发明提供了一种偏移参数确定装置,该偏移参数确定装置包括:控制模块、获取模块和确定模块。其中,控制模块,用于将n个阵列孔对应的工件放置于工作台上,并控制工作台按照m个运动参数值运动。获取模块,用于在工作台运动的过程中,获取m个偏移值,并分别根据m个运动参数值和m个偏移值,建立m个对应关系;并获取n个阵列孔对应的n个第一参数值和n个第二参数值,每个阵列孔分别对应一个第一参数值,每个阵列孔分别对应一个第二参数值,n为正整数。确定模块,用于基于m个对应关系,根据n个目标参数值,分别确定n个偏移值,每个对应关系分别为一个参数值和一个偏移值之间的对应关系,一个目标参数值包括以下至少一项:一个第一参数值、一个第二参数值;一个目标参数值对应一个偏移值,m为正整数;并基于n个偏移值和n个第二参数值,分别确定n个第三参数值,一个偏移值对应一个第三参数值,一个第二参数值对应一个第三参数值。
57.第三方面,本发明实施例提供了一种电子设备,该电子设备包括处理器、存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令,所述程序或指令被所述处理
器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。
58.第四方面,本发明实施例提供了一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储程序或指令,所述程序或指令被处理器执行时实现如第一方面所述的方法的步骤。
59.第五方面,本发明实施例提供了一种芯片,所述芯片包括处理器和通信接口,所述通信接口和所述处理器耦合,所述处理器用于运行程序或指令,实现如第一方面所述的方法。
60.下面结合附图,通过具体的实施例及其应用场景对本发明实施例提供的偏移参数确定方法进行详细地说明。
61.本发明实施例提供的一种偏移参数确定方法,图1示出了本发明实施例提供的偏移参数确定方法的流程图。如图1所示,本发明实施例提供的偏移参数确定方法可以包括下述的步骤101至步骤105。
62.步骤101、偏移参数确定装置将n个阵列孔对应的工件放置于工作台上,并控制工作台按照m个运动参数值运动。
63.可选地,本发明实施例中,上述工作台具体可以为回转工作台。
64.进一步可选地,本发明实施例中,可以将n个阵列孔对应的工件放置在电火花小孔机的回转工作台上,找该工件的回转中心(目标点)与回转工作台1的回转中心重合。(由于该工件存在变形,可采用对该工件的四个象限点的对点两两对中的方式粗略找正即可)。
65.可选地,本发明实施例中,在偏移参数确定装置将n个阵列孔对应的工件放置于工作台上之后,可以将百分表的表头贴近该工件的第一端面,然后再控制该工作台按照m个运动参数值转动。
66.进一步可选地,本发明实施例中,上述第一端面具体可以为:靠近目标点的端面。
67.举例说明,如图2所示,回转工作台1上放置有n个阵列孔对应的工件2,该工件2为回转体工件,则可以在机床主轴3上设置百分表架4,该百分表架4上固定有百分表5,该百分表5的表头贴近该工件的第一端面,从而可以控制该回转工作台1按照m个运动参数值,绕机床回转工作台转动轴c(目标点)转动。
68.步骤102、偏移参数确定装置在工作台运动的过程中,获取m个运动参数值对应的偏移值,并分别根据m个运动参数值和m个偏移值,建立m个对应关系。
69.进一步可选地,本发明实施例中,偏移参数确定装置可以先控制工作台按照m个运动参数值中的第一个参数值运动,然后再读取百分表的读数,以得到第一个偏差值,并根据该第一个参数值和该第一个偏差值,建立第一个对应关系,然后可以再控制工作台按照m个运动参数值中的第二个参数值运动,然后再读取百分表的读数,以得到第二个偏差值,并根据该第二个参数值和该第二个偏差值,建立第二个对应关系,以此类推,以建立m个对应关系。
70.可以理解,可以转动工作台的c轴,回转工作台1带动n个阵列孔对应的工件进行回转运动,按照相应频率记录机床回转工作台的回转角度参数cm和与回转角度cm对应的百分表的读数xm,将所有对应记录于测量点集pm(cm,xm)中,以得到m个对应关系。
71.步骤103、偏移参数确定装置获取n个阵列孔对应的n个第一参数值和n个第二参数值。
72.可选地,本发明实施例中,在用户在偏移参数确定装置中输入n个阵列孔的n个参
数信息(每个参数信息分别对应一个阵列孔)之后,偏移参数确定装置可以根据用户对偏移参数确定装置的输入,获取该n个参数信息,以获取n个第一参数值和n个第二参数值。
73.进一步可选地,本发明实施例中,针对n个参数信息中的每个参数信息,一个参数信息可以包括一个第一参数值和一个第二参数值,该一个第一参数值用于表征工作台的运动参数,该一个第二参数值用于表征一个阵列孔距离目标点间的距离。其中,该运动参数具体可以为以下任一项:转动角度、移动距离。
74.进一步可选地,本发明实施例中,n个第一参数值中的每个第一参数值均不同。n个第二参数值中的每个第二参数值可以相同,或者n个第二参数值中的部分第二参数值可以相同。
75.示例性地,若一个第一参数值用于表征工作台的转动角度,则一个第二参数值用于表征一个阵列孔距离转动(回转)中心间的距离。
76.本发明实施例中,上述n个阵列孔中的每个阵列孔分别对应一个第一参数值,每个阵列孔分别对应一个第二参数值,n为正整数。
77.可以理解,偏移参数确定装置可以按照一个阵列孔的一个第一参数值和一个第二参数值,控制工作台运动,以使得加工电极可以对准该一个阵列孔对应的待加工位置。
78.可选地,本发明实施例中,上述n个阵列孔可以为以下任一项:环形阵列孔、矩形阵列孔。
79.步骤104、偏移参数确定装置基于m个对应关系,根据n个目标参数值,分别确定n个偏移值。
80.本发明实施例中,上述m个对应关系中的每个对应关系分别为一个参数值和一个偏移值之间的对应关系,一个目标参数值包括以下至少一项:一个第一参数值、一个第二参数值;一个目标参数值对应一个偏移值,m为正整数。
81.可选地,本发明实施例中,上述m个对应关系具体可以为:偏移参数确定装置中预先存储的对应关系。
82.可选地,本发明实施例中,针对m个运动参数值中的每个参数值,一个参数值用于表征工作台的运动参数,一个偏移值用于表征一个阵列孔距离目标点间的偏移值。
83.本发明实施例中,由于可能会出现n个阵列孔对应的工件(即待加工n个阵列孔的工件)发生形变的情况,若仍然按照理论正圆位置进行编程加工,可能会导致n个阵列孔的n个参数信息不准确的情况,即n个阵列孔相邻阵列孔的夹角和孔中心距端面的尺寸不满足要求,因此,可以根据m个对应关系,确定出每个阵列孔的偏移值,从而可以调整加工电极的位置。
84.可选地,本发明实施例中,上述m个目标参数值具体可以为以下任一项:一个第一参数值;一个第一参数值和一个第二参数值。
85.可选地,在本发明实施例的一种可能的实现方式中,上述一个目标参数值为一个第二参数值。具体地,结合图1,如图3所示,上述步骤104具体可以通过下述的步骤104a和步骤104b实现。
86.步骤104a、偏移参数确定装置根据n个目标参数值中的第i个目标参数值,从m个对应关系中的m个运动参数值中,确定与第i个目标参数值相匹配的第三参数值。
87.本发明实施例中,i为正整数。
88.需要说明的是,上述“相匹配”可以理解为:相同,或者,差值小于或等于预设阈值。
89.步骤104b、偏移参数确定装置将第三参数值对应的偏移值,确定为第i个偏移值。
90.本发明实施例中,上述第i个偏移值对应第i个目标参数值。
91.可以理解,上述第i个偏移值对应第i个第二参数值。
92.示例性地,假设n个阵列孔中的第i个阵列孔的参数信息(中心理论点位)为p0(c0,x0),其中,c0为第i个阵列孔对应的工作台的转动角度参数值,x0为该第i个阵列孔距目标点(回转中心)的距离。
93.则偏移参数确定装置可以根据该c0从m个运动参数值中,确定出与该c0相匹配的第三参数值(例如,cn),并将该cn对应的偏移值(例如xn),确定为第i个偏移值。
94.本发明实施例中,偏移参数确定装置可以根据n个目标参数值中的每个目标参数值,均采用上述步骤104a和步骤104b,以确定n个偏移值。
95.如此可知,由于可能会出现n个阵列孔对应的工件(即待加工n个阵列孔的工件)发生形变的情况,若仍然按照理论正圆位置进行编程加工,可能会导致n个阵列孔的n个参数信息不准确的情况,即n个阵列孔相邻阵列孔的夹角和孔中心距端面的尺寸不满足要求,因此,可以根据m个对应关系,确定出每个阵列孔的偏移值,从而可以调整加工电极的位置,如此,可以提升确定的阵列孔的位置的准确性。
96.可选地,在本发明实施例的另一种可能的实现方式中,上述一个目标参数值包括一个第一参数值和一个第二参数值。具体地,结合图1,如图4所示,上述步骤104具体可以通过下述的步骤104c和步骤104d实现。
97.步骤104c、偏移参数确定装置根据n个目标参数值中的第i个第一参数值,从m个对应关系中的m个运动参数值中,确定与第i个第一参数值对应的第四参数值和第五参数值。
98.本发明实施例中,i为正整数。
99.本发明实施例中,上述第四参数值小于第i个第一参数值,上述第五参数值大于第i个第一参数值。
100.可选地,本发明实施例中,上述第四参数值具体可以为:m个运动参数值中,小于第i个第一参数值的参数值中的最大参数值;上述第五参数值具体可以为:m个运动参数值中,大于第i个第一参数值的参数值中的最小参数值。
101.示例性地,假设m个运动参数值为{1,3,5,7,9,11},第i个第一参数值为{6},则第四参数值为该m个运动参数值中,小于{6}的参数值(即{1,3,5})中的最大参数值,即{5};第五参数值为该m个运动参数值中,大于{6}的参数值(即{7,9,11})中的最小参数值,即{7}。
102.步骤104d、偏移参数确定装置基于第五参数值对应的偏移值和第四参数值对应的偏移值,确定第i个偏移值。
103.本发明实施例中,上述第i个偏移值对应第i个第一参数值,该第i个偏移值对应第i个第二参数值。
104.可选地,偏移参数确定装置可以采用第一算法,基于第五参数值对应的偏移值和第四参数值对应的偏移值,确定第i个偏移值。
105.下面将具体说明,偏移参数确定装置是如何采用第一算法,基于第五参数值对应的偏移值和第四参数值对应的偏移值,确定第i个偏移值的。
106.可选地,本发明实施例中,上述步骤104d具体可以通过下述的步骤104d1至步骤
104d4实现。
107.步骤104d1、偏移参数确定装置根据第五参数值和第四参数值间的差值,确定第一数值。
108.步骤104d2、偏移参数确定装置根据第五参数值对应的偏移值和第四参数值对应的偏移值间的差值,确定第二数值。
109.步骤104d3、偏移参数确定装置根据第四参数值和第i个第一参数值,确定第三数值。
110.步骤104d4、偏移参数确定装置根据第四参数值对应的偏移值、第一数值、第二数值和第三数值,确定第i个偏移值。
111.可以理解,上述第一算法具体可以为:
[0112][0113]
其中,qi为第i个偏移值,c0为第i个阵列孔对应的工作台的转动角度参数值,cn为第四参数值,该cn对应偏移值xn,c
n+1
为第五参数值,该c
n+1
对应偏移值x
n+1
。
[0114]
如此可知,由于可能会出现n个阵列孔对应的工件(即待加工n个阵列孔的工件)发生形变的情况,若仍然按照理论正圆位置进行编程加工,可能会导致n个阵列孔的n个参数信息不准确的情况,即n个阵列孔相邻阵列孔的夹角和孔中心距端面的尺寸不满足要求,因此,可以根据m个对应关系,确定出每个阵列孔的偏移值,从而可以调整加工电极的位置,如此,可以提升确定的阵列孔的位置的准确性。
[0115]
步骤105、偏移参数确定装置基于n个偏移值和n个第二参数值,分别确定n个第三参数值。
[0116]
本发明实施例中,针对n个偏移值中的每个偏移值,一个偏移值对应一个第三参数值,一个第二参数值对应一个第三参数值。
[0117]
可选地,本发明实施例中,偏移参数确定装置可以将第一个偏移值和第一个第二参数值之和,确定为第一个第三参数值,并将第二个偏移值和第二个第二参数值之和,确定为第二个第三参数值,以此类推,以确定n个第三参数值。
[0118]
可选地,本发明实施例中,在一个目标参数值为一个第二参数值的情况下,偏移参数确定装置可以采用第二算法,根据n个偏移值和n个第二参数值分别确定n个第三参数值。
[0119]
进一步可选地,本发明实施例中,上述第二算法具体可以为:
[0120]
f(c0)=x0+xn,c0=cn[0121]
其中,f(c0)为第i个第三参数值,第i个阵列孔参数信息(中心理论点为)为p0(c0,x0),c0为第i个阵列孔对应的工作台的转动角度参数值,x0为该第i个阵列孔距目标点(回转中心)的距离,x0为c0相匹配的第三参数值(例如,cn)所对应的偏移值。
[0122]
可选地,本发明实施例中,在一个目标参数值包括一个第一参数值和一个第二参数值的情况下,偏移参数确定装置可以采用第三算法,根据n个偏移值和n个第二参数值分别确定n个第三参数值。
[0123]
进一步可选地,本发明实施例中,上述第三算法具体可以为:
[0124]
[0125]
其中,f(c0)为第i个第三参数值,第i个阵列孔参数信息(中心理论点为)为p0(c0,x0),c0为第i个阵列孔对应的工作台的转动角度参数值,x0为该第i个阵列孔距目标点(回转中心)的距离,cn为第四参数值,该cn对应偏移值xn,c
n+1
为第五参数值,该c
n+1
对应偏移值x
n+1
。
[0126]
可选地,本发明实施例中,在偏移参数确定装置确定n个第三参数值之后,偏移参数确定装置可以根据n个第一参数值和n个第三参数值,进行n个阵列孔的加工操作。
[0127]
本发明实施例中,由于可能会出现n个阵列孔对应的工件发生形变的情况,这样可能会导致n个第二参数值不准确的情况,因此,偏移参数确定装置可以采用上述步骤101至步骤105,重新确定n个第二参数值(即n个第三参数值),并根据n个第一参数值和n个第三参数值,进行n个阵列孔的加工操作。
[0128]
本发明实施例提供的偏移参数确定方法,偏移参数确定装置可以将n个阵列孔对应的工件放置于工作台上,并控制工作台按照m个运动参数值运动;并在工作台运动的过程中,获取m个偏移值,并分别根据m个运动参数值和所述m个偏移值,建立m个对应关系,从而可以获取n个阵列孔对应的n个第一参数值和n个第二参数值,并基于m个对应关系(每个对应关系分别为一个参数值和一个偏移值之间的对应关系),根据n个第一参数值(和/或一个第二参数值),分别确定n个偏移值,再基于该n个偏移值和n个第二参数值,分别确定n个第三参数值。由于在工作台运动的过程中,获取m个偏移值,并分别根据m个运动参数值和m个偏移值,建立m个对应关系,从而偏移参数确定装置可以先获取n个阵列孔的第一参数值和第二参数值,并基于m该对应关系,根据该n个阵列孔的第一参数值(和/或第二参数值),分别确定n个偏移值,以确定n个第三参数值,这样,偏移参数确定装置可以根据该n个第一参数值和该n个第三参数值,进行n个阵列孔的加工操作,因此,可以避免出现并未将加工电极对准刻线的情况,从而可以减小加工的阵列孔的误差,如此,可以提升加工阵列孔的精度。
[0129]
需要说明的是,本发明实施例提供的偏移参数确定方法,执行主体可以为偏移参数确定装置,或者该偏移参数确定装置中的用于执行偏移参数确定方法的控制模块。本发明实施例中以偏移参数确定装置执行偏移参数确定方法为例,说明本发明实施例提供的偏移参数确定方法的。
[0130]
图5示出了本发明实施例中涉及的偏移参数确定装置的一种可能的结构示意图。如图5所示,偏移参数确定装置60可以包括:控制模块61、获取模块62和确定模块63。
[0131]
其中,控制模块61,用于将n个阵列孔对应的工件放置于工作台上,并控制工作台按照m个运动参数值运动。获取模块62,用于在工作台运动的过程中,获取m个偏移值,并分别根据m个运动参数值和所述m个偏移值,建立m个对应关系;并获取n个阵列孔对应的n个第一参数值和n个第二参数值,每个阵列孔分别对应一个第一参数值,每个阵列孔分别对应一个第二参数值,n为正整数。确定模块62,用于基于m个对应关系,根据n个目标参数值,分别确定n个偏移值,每个对应关系分别为一个参数值和一个偏移值之间的对应关系,一个目标参数值包括以下至少一项:一个第一参数值、一个第二参数值;一个目标参数值对应一个偏移值,m为正整数;并基于n个偏移值和n个第二参数值,分别确定n个第三参数值,一个偏移值对应一个第三参数值,一个第二参数值对应一个第三参数值。
[0132]
在一种可能的实现方式中,上述一个目标参数值为一个第二参数值。上述确定模块62,具体用于根据n个目标参数值中的第i个目标参数值,从m个对应关系中的m个运动参
数值中,确定与第i个目标参数值相匹配的第三参数值,i为正整数;并将第三参数值对应的偏移值,确定为第i个偏移值。其中,上述第i个偏移值对应第i个目标参数值。
[0133]
在一种可能的实现方式中,上述一个目标参数值包括一个第一参数值和一个第二参数值。上述确定模块62,具体用于根据n个目标参数值中的第i个第一参数值,从m个对应关系中的m个运动参数值中,确定与第i个第一参数值对应的第四参数值和第五参数值,i为正整数;并基于第五参数值对应的偏移值和第四参数值对应的偏移值,确定第i个偏移值。其中,上述第四参数值小于第i个第一参数值,上述第五参数值大于第i个第一参数值;该第i个偏移值对应第i个第一参数值,该第i个偏移值对应第i个第二参数值。
[0134]
在一种可能的实现方式中,上述确定模块62,具体用于根据第五参数值和第四参数值间的差值,确定第一数值;并根据第五参数值对应的偏移值和第四参数值对应的偏移值间的差值,确定第二数值;再根据第四参数值和第i个第一参数值,确定第三数值;以及,根据第四参数值对应的偏移值、第一数值、第二数值和第三数值,确定第i个偏移值。
[0135]
本发明实施例提供的偏移参数确定装置,由于偏移参数确定装置可以先获取n个阵列孔的第一参数值和第二参数值,并基于m该对应关系,根据该n个阵列孔的第一参数值(和/或第二参数值),分别确定n个偏移值,以确定n个第三参数值,以根据该n个第一参数值和该n个第三参数值,进行n个阵列孔的加工操作,因此,可以避免出现并未将加工电极对准刻线的情况,从而可以减小加工的阵列孔的误差,如此,可以提升加工阵列孔的精度。
[0136]
本发明实施例中的偏移参数确定装置可以是装置,也可以是终端中的部件、集成电路、或芯片。该装置可以是移动电子设备,也可以为非移动电子设备。示例性的,移动电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑、掌上电脑超级移动个人计算机(ultra-mobile personal computer,umpc)或者上网本,非移动电子设备可以为服务器、个人计算机(personal computer,pc),本发明实施例不作具体限定。
[0137]
本发明实施例中的偏移参数确定装置可以为具有操作系统的装置。该操作系统可以为windows操作系统,可以为ios操作系统,还可以为其他可能的操作系统,本发明实施例不作具体限定。
[0138]
本发明实施例提供的偏移参数确定装置能够实现图1至图4的方法实施例实现的各个过程,为避免重复,这里不再赘述。
[0139]
可选的,如图6所示,本发明实施例还提供一种电子设备70,包括处理器72,存储器71,存储在存储器71上并可在所述处理器72上运行的程序或指令,该程序或指令被处理器72执行时实现上述偏移参数确定方法实施例的各个过程,且能达到相同的技术效果,为避免重复,这里不再赘述。
[0140]
需要说明的是,本发明实施例中的电子设备包括上述所述的移动电子设备和非移动电子设备。
[0141]
本发明实施例还提供一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有程序或指令,该程序或指令被处理器执行时实现上述偏移参数确定方法实施例的各个过程,且能达到相同的技术效果,为避免重复,这里不再赘述。
[0142]
其中,所述处理器为上述实施例中所述的电子设备中的处理器。所述可读存储介质,包括计算机可读存储介质,如计算机只读存储器(read-only memory,rom)、随机存取存储器(random access memory,ram)、磁碟或者光盘。
[0143]
本发明实施例另提供了一种芯片,所述芯片包括处理器和通信接口,所述通信接口和所述处理器耦合,所述处理器用于运行程序或指令,实现上述偏移参数确定方法实施例的各个过程,且能达到相同的技术效果,为避免重复,这里不再赘述。
[0144]
应理解,本发明实施例提到的芯片还可以称为系统级芯片、系统芯片、芯片系统或片上系统芯片。
[0145]
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个
……”
限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。此外,需要指出的是,本发明实施方式中的方法和装置的范围不限按示出或讨论的顺序来执行功能,还可包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序来执行功能,例如,可以按不同于所描述的次序来执行所描述的方法,并且还可以添加、省去、或组合各种步骤。另外,参照某些示例所描述的特征可在其他示例中被组合。
[0146]
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如rom/ram、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端(可以是手机、计算机、服务器、空调器或者网络设备)执行本发明各个实施例所述的方法。
[0147]
上面结合附图对本发明的实施例进行了描述,但是本发明并不局限于上述的具体实施方式,上述的具体实施方式仅仅是示意性的,而不是限制性的,本领域的普通技术人员在本发明的启示下,在不脱离本发明宗旨和权利要求所保护的范围情况下,还可做出很多形式,均属于本发明的保护之内。
技术特征:
1.一种偏移参数确定方法,其特征在于,所述方法包括:将所述n个阵列孔对应的工件放置于工作台上,并控制所述工作台按照m个运动参数值运动;在所述工作台运动的过程中,获取m个运动参数值的偏移值,并分别根据所述m个运动参数值和所述m个运动参数值的偏移值,建立所述m个运动参数值与运动参数值的偏移值之间的对应关系;所述对应关系中,每个运动参数值与该运动参数值的偏移值对应;获取n个阵列孔对应的n个第一参数值和n个第二参数值,每个阵列孔分别对应一个第一参数值,每个阵列孔分别对应一个第二参数值;其中,第一参数值用于表征工作台的转动角度,第二参数值用于表征一个阵列孔距离转动中心间的距离,n为正整数;基于m个对应关系,根据n个阵列孔的目标参数值,分别确定n个阵列孔分别对应的偏移值,每个对应关系分别为一个参数值和一个偏移值之间的对应关系,每个目标参数值包括一个第一参数值和一个第二参数值中的至少一个;一个目标参数值对应一个偏移值,m为正整数;基于所述n个偏移值和n个第二参数值,分别确定n个第三参数值,一个偏移值对应一个第三参数值,一个第二参数值对应一个第三参数值,一个第三参数值为:一个偏移值与对应的第二参数值之和。2.根据权利要求1所述的一种偏移参数确定方法,其特征在于,所述一个目标参数值为一个第二参数值;所述基于m个对应关系,根据n个目标参数值,分别确定n个偏移值,包括:根据所述n个目标参数值中的第i个目标参数值,从所述m个对应关系中的m个运动参数值中,确定与所述第i个目标参数值相匹配的第三参数值,i为正整数;将所述第三参数值对应的偏移值,确定为第i个偏移值;其中,所述第i个偏移值对应所述第i个目标参数值。3.根据权利要求1所述的一种偏移参数确定方法,其特征在于,所述一个目标参数值包括一个第一参数值和一个第二参数值;所述基于m个对应关系,根据n个目标参数值,分别确定n个偏移值,包括:根据所述n个目标参数值中的第i个第一参数值,从所述m个对应关系中的m个运动参数值中,确定与所述第i个第一参数值对应的第四参数值和第五参数值,i为正整数;基于所述第五参数值对应的偏移值和所述第四参数值对应的偏移值,确定第i个偏移值;其中,所述第四参数值小于所述第i个第一参数值,所述第五参数值大于所述第i个第一参数值;所述第i个偏移值对应所述第i个第一参数值,所述第i个偏移值对应第i个第二参数值。4.根据权利要求3所述的一种偏移参数确定方法,其特征在于,所述基于所述第四参数值对应的偏移值和所述第五参数值对应的偏移值,确定第i个偏移值,包括:根据所述第五参数值和所述第四参数值间的差值,确定第一数值;根据所述第五参数值对应的偏移值和所述第四参数值对应的偏移值间的差值,确定第二数值;
根据所述第四参数值和所述第i个第一参数值,确定第三数值;根据所述第四参数值对应的偏移值、所述第一数值、所述第二数值和所述第三数值,确定所述第i个偏移值。5.一种偏移参数确定装置,其特征在于,所述偏移参数确定装置包括:控制模块、获取模块和确定模块;所述控制模块,用于将所述n个阵列孔对应的工件放置于工作台上,并控制所述工作台按照m个运动参数值运动;所述获取模块,用于在所述工作台运动的过程中,获取m个运动参数值的偏移值,并分别根据所述m个运动参数值和所述m个运动参数值的偏移值,建立所述m个运动参数值与运动参数值的偏移值之间的对应关系;所述对应关系中,每个运动参数值与该运动参数值的偏移值对应;获取n个阵列孔对应的n个第一参数值和n个第二参数值,每个阵列孔分别对应一个第一参数值,每个阵列孔分别对应一个第二参数值;其中,第一参数值用于表征工作台的转动角度,第二参数值用于表征一个阵列孔距离转动中心间的距离,n为正整数;所述确定模块,用于基于m个对应关系,根据n个阵列孔的目标参数值,分别确定n个阵列孔分别对应的偏移值,每个对应关系分别为一个参数值和一个偏移值之间的对应关系,每个目标参数值包括一个第一参数值和一个第二参数值中的至少一个;一个目标参数值对应一个偏移值,m为正整数;基于所述n个偏移值和n个第二参数值,分别确定n个第三参数值,一个偏移值对应一个第三参数值,一个第二参数值对应一个第三参数值,一个第三参数值为:一个偏移值与对应的第二参数值之和。6.根据权利要求5所述的一种偏移参数确定装置,其特征在于,所述一个目标参数值为一个第二参数值;所述确定模块,具体用于根据所述n个目标参数值中的第i个目标参数值,从所述m个对应关系中的m个运动参数值中,确定与所述第i个目标参数值相匹配的第三参数值,i为正整数;并将所述第三参数值对应的偏移值,确定为第i个偏移值;其中,所述第i个偏移值对应所述第i个目标参数值。7.根据权利要求5所述的一种偏移参数确定装置,其特征在于,所述一个目标参数值包括一个第一参数值和一个第二参数值;所述确定模块,具体用于根据所述n个目标参数值中的第i个第一参数值,从所述m个对应关系中的m个运动参数值中,确定与所述第i个第一参数值对应的第四参数值和第五参数值,i为正整数;并基于所述第五参数值对应的偏移值和所述第四参数值对应的偏移值,确定第i个偏移值;其中,所述第四参数值小于所述第i个第一参数值,所述第五参数值大于所述第i个第一参数值;所述第i个偏移值对应所述第i个第一参数值,所述第i个偏移值对应第i个第二参数值。8.根据权利要求7所述的一种偏移参数确定装置,其特征在于,所述确定模块,具体用于根据所述第五参数值和所述第四参数值间的差值,确定第一数值;再根据所述第五参数值对应的偏移值和所述第四参数值对应的偏移值间的差值,确定第二数值;并根据所述第
四参数值和所述第i个第一参数值,确定第三数值;以及,根据所述第四参数值对应的偏移值、所述第一数值、所述第二数值和所述第三数值,确定所述第i个偏移值。9.一种工件加工方法,其特征在于,所述工件加工方法用于加工具有阵列孔的工件,在加工所述具有阵列孔的工件时,通过权利要求1-4任意一项所述的偏移参数确定方法确定n个第一参数值和n个第三参数值,根据所述n个第一参数值和n个第三参数值在工件上进行n个阵列孔的加工操作。10.一种电子设备,其特征在于,包括处理器,存储器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的程序或指令,所述程序或指令被所述处理器执行时实现如权利要求1至4中任一项所述的偏移参数确定方法的步骤。
技术总结
本发明公开了一种偏移参数确定方法,属于电火花加工技术领域,可以解决加工阵列孔的精度较差的问题。该偏移参数确定方法包括:将N个阵列孔对应的工件放置于工作台上,并控制工作台按照M个运动参数值运动;在工作台运动的过程中,获取M个偏移值,并分别根据M个运动参数值和M个偏移值,建立M个对应关系;获取N个阵列孔对应的N个第一参数值和N个第二参数值,每个阵列孔分别对应一个第一参数值,每个阵列孔分别对应一个第二参数值,N为正整数;基于M个对应关系,根据N个目标参数值,分别确定N个偏移值基于N个偏移值和N个第二参数值,分别确定N个第三参数值,一个偏移值对应一个第三参数值,一个第二参数值对应一个第三参数值。一个第二参数值对应一个第三参数值。一个第二参数值对应一个第三参数值。
技术研发人员:程媛媛 徐佩 陷雨飞 王亚东 朱红刚 同博
受保护的技术使用者:中国航发动力股份有限公司
技术研发日:2021.12.15
技术公布日:2022/3/8