一种可调照明区域的磁畴成像装置的制作方法

专利查询2月前  28


本发明涉及磁畴成像,尤其涉及一种可调照明区域的磁畴成像装置。


背景技术:

1、磁畴成像技术,一种重要的材料科学研究工具,它利用检测光在被测磁性材料表面反射后偏振态的变化来观测和分析磁畴结构。此技术为科研人员和工程师们提供了直观、精准的磁畴结构和行为分析方式,对于理解材料的磁性特性和优化磁性材料设计具有重要意义。

2、然而,在磁畴成像技术的发展与应用过程中,照明控制环节逐渐显现出其关键性。传统的磁畴成像装置,其照明系统通常采用固定的照明区域,这种设计在面对形状、大小和特性各异的样品时,显得力不从心。由于无法根据实际需求灵活调整照明位置,这些装置的成像灵活性和精度受到了严重限制,从而影响了磁畴成像的准确性和有效性。

3、为了获得更高质量的成像效果,对照明区域进行更精确的控制尤为重要。然而,这一目标的实现并不容易。传统的光路设计往往复杂且安装精度要求高,这不仅增加了设备的制造成本,也降低了用户的使用便捷性。同时,由于样品的局部形状差异,可能会在成像过程中形成亮斑,这些亮斑会严重影响图片的整体亮度和成像效果,进而干扰到对磁畴结构的准确分析。

4、因此,如何在降低光路组件的安装精度需求,提高装卸便捷性的情况下,使得磁畴成像装置能够灵活调整照明区域成为亟待解决的技术问题。


技术实现思路

1、本发明实施例提供一种可调照明区域的磁畴成像装置,用以解决如下技术问题:如何在降低光路组件的安装精度需求,提高装卸便捷性的情况下,使得磁畴成像装置能够灵活调整照明区域。

2、本发明实施例采用下述技术方案:

3、本发明实施例提供了一种可调照明区域的磁畴成像装置,装置包括:光发生组件、光路调整组件、成像组件;所述光发生组件用于产生偏振光;所述光路调整组件包括棱镜和数字微镜器件,所述偏振光经所述棱镜传递至所述数字微镜器件;至少部分的所述偏振光经所述数字微镜器件上的微镜反射至被测物;所述光发生组件与所述被测物之间的光路为临界照明光路;所述成像组件设置于所述偏振光经被测物反射的反射光路中。

4、在本发明一个可能的实现方式中,所述偏振光倾斜入射所述被测物。

5、在本发明一个可能的实现方式中,所述装置还包括分光组件;所述分光组件设置于所述数字微镜器件与所述被测物之间的光路上,所述数字微镜器件反射的至少部分所述偏振光经所述分光组件照射至所述被测物,经被测物反射的所述偏振光至少经所述分光组件进入所述成像组件。

6、在本发明一个可能的实现方式中,所述光发生组件至少包括:激光光源、起偏器;所述激光光源用于产生照明光线;所述起偏器设置于所述照明光线的光路中并将所述照明光线转化为偏振光。

7、在本发明一个可能的实现方式中,所述光发生组件还包括准直器,所述准直器设置于所述激光光源所产生的照明光线的光路中。

8、在本发明一个可能的实现方式中,所述光发生组件还包括:光纤、光纤输出装置;所述光纤与所述激光光源连接,用于传输激光光源产生的照明光线;所述光纤输出装置设置于所述光纤末端,用于将所述光纤传输的照明光线发射至所述起偏器。

9、在本发明一个可能的实现方式中,所述光路调整组件还包括:光陷阱;所述数字微镜器件将至少部分的所述偏振光反射至被测物,至少另一部分的所述偏振光反射至所述光陷阱,所述光陷阱用于吸收其接收到的光。

10、在本发明一个可能的实现方式中,所述成像组件至少包括:检偏器、相机;所述被测物反射的光经过所述检偏器后进入所述相机,所述相机根据接收到的所述偏振光进行成像。

11、在本发明一个可能的实现方式中,所述成像组件还包括:第一透镜组件;所述第一透镜组件设置于所述被测物与所述相机之间的光路中。

12、在本发明一个可能的实现方式中,所述光路调整组件还包括聚光组件;所述聚光组件至少设置于所述数字微镜器件与所述被测物之间的光路中。

13、与现有技术相比,本发明实施例提供的一种可调照明区域的磁畴成像装置,具有以下有益效果:

14、1)降低安装精度需求:由于数字微镜器件具有较大的反射面,使得从光纤出射的光只需照射在数字微镜器件上,即可通过该器件灵活调整被测物体上的照明位置。这一特性显著降低了光路组件的安装精度要求,从而简化了光学系统的搭建过程,提高了系统的容错率和稳定性。

15、2)提高装卸便捷性:传统的光学系统往往需要精确的校准和对齐,而本发明的数字微镜器件由于其对光线的灵活操控能力,大大减少了这一步骤的复杂性,使得装卸过程更为迅速和便捷,极大地提升了工作效率。

16、3)优化图像质量:本发明能够规避样品上局部形状所形成的亮斑,这些亮斑在传统光学检测中往往会干扰图片的整体亮度和视觉效果。通过数字微镜器件的精确调控,可以有效消除这些不利因素,从而得到亮度均匀、质量更高的成像。



技术特征:

1.一种可调照明区域的磁畴成像装置,其特征在于,所述装置包括:光发生组件、光路调整组件、成像组件;

2.根据权利要求1所述的一种可调照明区域的磁畴成像装置,其特征在于,所述偏振光倾斜入射所述被测物。

3.根据权利要求1所述的一种可调照明区域的磁畴成像装置,其特征在于,所述装置还包括分光组件;

4.根据权利要求1所述的一种可调照明区域的磁畴成像装置,其特征在于,所述光发生组件至少包括:激光光源、起偏器;

5.根据权利要求4所述的一种可调照明区域的磁畴成像装置,其特征在于,所述光发生组件还包括准直器,所述准直器设置于所述激光光源所产生的照明光线的光路中。

6.根据权利要求4所述的一种可调照明区域的磁畴成像装置,其特征在于,所述光发生组件还包括:光纤、光纤输出装置;

7.根据权利要求1所述的一种可调照明区域的磁畴成像装置,其特征在于,所述光路调整组件还包括:光陷阱;

8.根据权利要求1所述的一种可调照明区域的磁畴成像装置,其特征在于,所述成像组件至少包括:检偏器、相机;

9.根据权利要求8所述的一种可调照明区域的磁畴成像装置,其特征在于,所述成像组件还包括:第一透镜组件;

10.根据权利要求1所述的一种可调照明区域的磁畴成像装置,其特征在于,所述光路调整组件还包括聚光组件;


技术总结
本发明公开了一种可调照明区域的磁畴成像装置,涉及磁畴成像技术领域。装置包括:光发生组件、光路调整组件、成像组件;所述光发生组件用于产生偏振光;所述光路调整组件包括棱镜和数字微镜器件,所述偏振光经所述棱镜传递至所述数字微镜器件;至少部分的所述偏振光经所述数字微镜器件上的微镜反射至被测物;所述光发生组件与所述被测物之间的光路为临界照明光路;所述成像组件设置于所述偏振光经被测物反射的反射光路中。

技术研发人员:张学莹,杜洪磊,孙天然,欧阳玉东,王麟
受保护的技术使用者:致真精密仪器(青岛)有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/12/5

最新回复(0)