测定系统的制作方法

本公开涉及一种测定系统。

背景技术：

1、在一般的测定电路的故障诊断中，针对一个被测定物设置两个测定路径来比较它们的输出，在测定结果产生了超过容许误差的差异的情况下，诊断为测定电路发生了故障。例如专利文献1所公开的电压检测装置具有选择性地检测电池组的各个电池单元的电压的两个电压检测单元，具有检测不同的电池单元的电压的第一模式和检测相同的电池单元的单元电压的第二模式。在第二模式中，在测定结果产生了差异的情况下，判定为某个电压检测单元发生了某种故障。

2、专利文献

3、专利文献1：日本特开2013-24800号公报

技术实现思路

1、发明所要解决的问题

2、然而，在专利文献1所公开的技术中，在两个测定路径中共同使用的电源等发生了故障的情况下，存在无法取得被测定物的测定数据的问题。

3、因此，本公开提供一种能够比以往更可靠地取得被测定物的测定数据的测定系统。

4、用于解决问题的手段

5、本公开的一个方式的测定系统具有：n(n为4以上的整数)个测定路径，输出对1个以上的被测定物进行测定所得的测定数据；m(m为2以上的整数)个参考信号产生电路，输出在所述n个测定路径参考的参考信号，分别向所述n个测定路径中的2个以上的测定路径输出所述参考信号；k(k为2以上的整数)个路径异常判定电路，分别对从所述n个测定路径中的2个测定路径输出的所述测定数据进行比较来判定有无异常；以及处理电路，输入从所述n个测定路径分别输出的所述测定数据及从所述k个路径异常判定电路分别输出的判定结果。

6、发明效果

7、根据本公开的一个方式的测定系统，能够比以往更可靠地取得被测定物的测定数据。

技术特征：

1.一种测定系统，其具有：

2.根据权利要求1所述的测定系统，其中，

3.根据权利要求2所述的测定系统，其中，

4.根据权利要求2或3所述的测定系统，其中，

5.根据权利要求2～4中任一项所述的测定系统，其中，

6.根据权利要求5所述的测定系统，其中，

7.根据权利要求6所述的测定系统，其中，

8.根据权利要求5所述的测定系统，其中，

9.根据权利要求1所述的测定系统，其中，

10.根据权利要求9所述的测定系统，其中，

11.根据权利要求1所述的测定系统，其中，

12.根据权利要求11所述的测定系统，其中，

13.根据权利要求3或12所述的测定系统，其中，

14.根据权利要求5～7中任一项所述的测定系统，其中，

15.根据权利要求9或10所述的测定系统，其中，

16.根据权利要求1～15中任一项所述的测定系统，其中，

17.根据权利要求1～16中任一项所述的测定系统，其中，

技术总结
测定系统具有：n(n为4以上的整数)个测定路径(测定路径(11A)等)，输出测定了1个以上的被测定物所得的测定数据；m(m为2以上的整数)个参考信号产生电路(BGR电路(41)等)，输出在n个测定路径参考的参考信号，分别向n个测定路径中的2个以上的测定路径输出参考信号；k(k为2以上的整数)个路径异常判定电路(判定电路(15)等)，对从n个测定路径中的2个输出的测定数据进行比较，判定有无异常；以及处理电路(处理电路(5D)等)，输入分别从n个测定路径输出的测定数据及分别来自k个路径异常判定电路的输出。

技术研发人员：森良介,石井卓也
受保护的技术使用者：新唐科技日本株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/12/5