一种基于双芯片架构的显示器测试装置的制作方法

专利查询9天前  14


本技术属于显示屏测试领域,具体地说,本技术涉及一种基于双芯片架构的显示器测试装置。


背景技术:

1、随着汽车行业的快速发展,汽车仪表显示屏在汽车中的作用越来越重要。为了保证汽车仪表显示屏的生产准确性,需要对产线生产时读取的产线信息进行验证。显示屏生产过程中会产生各种信息,这意味着显示屏的测试需要采集大量的数据,这就对测试装置的数据处理能力以及控制功能多样化有所要求。而现有的测试盒功能单一,无法满足对汽车仪表显示屏生产过程中各种信息的验证需求。

2、随着显示屏大屏时代的到来,显示屏开发周期的越来越短,显示屏开发等不及座舱功能完全开发,以及主机的采购成本较高,显示屏前期开发得不到主机的支持;行业内显示屏项目生产需要显示各种自定义的画面和i2c通讯,依靠主机是无法完成的;另外,显示屏项目各类实验和测试需要大量的点亮画面,需要测试画面的输入、模拟主机处理触摸数据。综上,急需一种可以显示屏开发前期替代主机的测试装置,同时既能传输自定义画面又能实现i2c通讯。

3、对比文件(cn203787060u)公开了一种具有多vga输出接口的显示屏测试装置,包括arm处理器、fpga芯片、存储模块和视频接口芯片,所述fpga芯片分别与arm处理器和存储模块连接,所述fpga芯片设有多个vga接口,各所述vga接口分别与视频接口芯片连接。本实用新型通过设置多个vga接口进行测试,能同时对多个显示屏进行测试,大大减少生产测试的时间,生产成本较低。而且采用了arm处理器和fpga芯片进行控制,ddr2存储器进行存储,能有效提高测试处理速度和响应速度,大大提升生产效率。

4、上述对比文件实现了多个显示屏的同时测试,减少测试时间,但是该对比文件并没有解决显示屏测试功能单一,测试装置数据处理能力薄弱的问题。综上,本实用新型提出了一种基于双芯片架构的显示器测试装置。


技术实现思路

1、本实用新型旨在克服现有技术的不足,提出了一种基于双芯片架构的显示器测试装置,以达到提高显示器测试数据处理能力、可以自定义测试画面、实现i2c通讯、实现显示器多种功能测试的目的,从而提高现显示器测试准确性,提高生产质量。

2、为了实现上述目的,本实用新型采取的技术方案为:一种基于双芯片架构的显示器测试装置,所述装置包括产线测试设备、测试盒、显示器,所述测试盒分别与所述产线测试设备、显示器连接,其中:所述测试盒包括第一控制芯片、第二控制芯片、串行器,所述第一控制芯片分别与所述产线测试设备、第二控制芯片、串行器连接;所述第二控制芯片与所述串行器连接;所述串行器与所述显示器连接。

3、进一步,所述第一控制芯片为mcu,所述mcu分别与所述产线测试设备、第二控制芯片、串行器连接。

4、进一步,所述第二控制芯片为soc,所述soc分别与所述第一控制芯片、串行器连接。

5、进一步,所述soc包括图片调用模块,所述图片调用模块包括存储器,所述存储器存储有预设的图像和视频数据。

6、进一步,所述装置还包括检测装置,所述检测装置与所述第一控制芯片连接,用于检测显示器生产过程中的状态信息并传输至所述第一控制芯片,所述检测装置包括温度传感器、湿度传感器、电压采样装置,温度传感器、湿度传感器、电压采样装置分别与所述第一控制芯片连接。

7、进一步,所述测试盒与所述产线测试设备之间通过can总线连接。

8、进一步,所述mcu与所述soc之间采用自定义的ucom协议进行通讯;所述soc与所述串行器之间通过i2c总线连接。

9、进一步,所述显示器包括解串器、屏mcu、显示屏,其中:所述解串器分别与所述测试盒的串行器、屏mcu、显示屏连接;所述屏mcu与所述显示屏连接。

10、进一步,所述串行器和解串器之间通过fpd link接口或gmsl接口连接。

11、进一步,所述产线测试设备用于下发显示器测试数据信息至所述第一控制芯片;

12、所述第一控制芯片用于接收并初步解析所述装置各组件发送的数据信息,输出控制显示器状态的高低电平使能信号、以及控制显示器亮度的pwm信号至所述串行器,同时输出初步解析后的数据信息至所述第二控制芯片;

13、所述第二控制芯片用于对所述第一控制芯片初步解析后的数据信息进行二次解析,并输出图像显示控制信号和视频流信号至所述串行器;

14、所述串行器用于透传所述第一控制芯片的高低电平使能信号和pwm信号至所述显示器,以及将所述第二控制芯片的图像显示控制信号和视频流信号转换为串行信号后输出至所述显示器。

15、所述显示器用于根据所述串行器的输出,进行显示测试。

16、本实用新型的技术效果为:(1)mcu和soc双芯片的测试装置架构,提高了测试数据处理能力,提高了测试效率;(2)采用自研的ucom通讯协议实现了mcu和soc两个独立单元之间的数据识别与交互,同时减少了资源占用,提高了数据传输效率;(3)soc设置有图片调用模块,实现了自定义测试画面;(4)测试盒可独立于装置之外,可重复使用,同时具有高可扩展性,可根据需求灵活调整测试盒的功能,实现显示器多功能的测试。



技术特征:

1.一种基于双芯片架构的显示器测试装置,其特征在于:所述装置包括产线测试设备、测试盒、显示器,所述测试盒分别与所述产线测试设备、显示器连接,其中:所述测试盒包括第一控制芯片、第二控制芯片、串行器,所述第一控制芯片分别与所述产线测试设备、第二控制芯片、串行器连接;所述第二控制芯片与所述串行器连接;所述串行器与所述显示器连接。

2.根据权利要求1所述的一种基于双芯片架构的显示器测试装置,其特征在于:所述第一控制芯片为mcu,所述mcu分别与所述产线测试设备、第二控制芯片、串行器连接。

3.根据权利要求2所述的一种基于双芯片架构的显示器测试装置,其特征在于:所述第二控制芯片为soc,所述soc分别与所述第一控制芯片、串行器连接。

4.根据权利要求3所述的一种基于双芯片架构的显示器测试装置,其特征在于:所述soc包括图片调用模块,所述图片调用模块包括存储器,所述存储器存储有预设的图像和视频数据。

5.根据权利要求1所述的一种基于双芯片架构的显示器测试装置,其特征在于:所述装置还包括检测装置,所述检测装置与所述第一控制芯片连接,用于检测显示器生产过程中的状态信息并传输至所述第一控制芯片,所述检测装置包括温度传感器、湿度传感器、电压采样装置,温度传感器、湿度传感器、电压采样装置分别与所述第一控制芯片连接。

6.根据权利要求1所述的一种基于双芯片架构的显示器测试装置,其特征在于:所述测试盒与所述产线测试设备之间通过can总线连接。

7.根据权利要求3所述的一种基于双芯片架构的显示器测试装置,其特征在于:所述mcu与所述soc之间采用自定义的ucom协议进行通讯;所述soc与所述串行器之间通过i2c总线连接。

8.根据权利要求1所述的一种基于双芯片架构的显示器测试装置,其特征在于:所述显示器包括解串器、屏mcu、显示屏,其中:所述解串器分别与所述测试盒的串行器、屏mcu、显示屏连接;所述屏mcu与所述显示屏连接。

9.根据权利要求8所述的一种基于双芯片架构的显示器测试装置,其特征在于:所述串行器和解串器之间通过fpd link接口或gmsl接口连接。

10.根据权利要求1所述的一种基于双芯片架构的显示器测试装置,其特征在于:


技术总结
本技术提出了一种基于双芯片架构的显示器测试装置,属于显示屏测试领域。所述装置包括产线测试设备、测试盒、显示器,所述测试盒分别与所述产线测试设备、显示器连接,其中:所述测试盒包括第一控制芯片、第二控制芯片、串行器,所述第一控制芯片分别与所述产线测试设备、第二控制芯片、串行器连接;所述第二控制芯片与所述串行器连接;所述串行器与所述显示器连接。本技术提高了显示器测试数据处理能力、可以自定义测试画面、实现I2C通讯、实现显示器多种功能测试,从而提高显示器测试准确性,提高生产质量。

技术研发人员:左双文,杜傲达,钱涛
受保护的技术使用者:伯泰克汽车电子(芜湖)有限公司
技术研发日:20240402
技术公布日:2024/12/5

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