一种芯片检测进料机构的制作方法

本发明涉及led芯片加工领域，尤其涉及一种芯片检测进料机构。

背景技术：

1、半导体发光器件led(light emitting diode)以其寿命长、耗能低、无污染、耐震动、响应速度快、应用灵活、控制方便等特点，正在从显示器件发展成为下一代的主要照明器件。随着led的关键技术不断突破，其发光效率快速提高。采用led作为半导体照明光源的应用领域不断扩展，科研人员、工程技术人员和企业生产者正共同努力争取在尽可能短的时间内实现led作为普通照明光源的应用。

2、由于没有合适的检测设备，目前检测和分选是许多led芯片厂商的产能瓶颈，也是led产品成本的一个重要来源。对外延片或者晶圆上每一个led芯片单元的的快速、低成本、无损检测方法和设备，成为业界关注的焦点。

3、申请号：cn200810070112.9 提出了led芯片/晶圆/外延片的非接触式检测方法及检测装置，同时实现对led芯片/晶圆/外延片的发光特性和电特性的非接触、无损检测，把led产品的检测和筛选由“成品”环节推进到“芯片”环节，降低了led的成本。

技术实现思路

1、为了提供一种使用方便的给非接触式芯片检测设备进料的装置，以完善整套加工设备，本实用新型设计了一种芯片检测进料机构，其结构包括：料仓，料仓下部设有左右贯通的推料通道，料仓上部设有贯通至推料通道顶部的料槽，料槽内堆叠有多个的载物板，载物板上设有用于放置待检芯片的凹槽；推料通道一端设有推板，推板由固定于料仓一侧的第一推顶机构带动在推料通道内左右移动，料仓在与第一推顶机构相邻的一侧设有第二推顶机构，第二推顶机构通过连接板带动筛料板于推料通道的出口处前后移动。

2、较佳的，所述第一推顶机构包括固定于料仓左侧壁的步进电机，步进电机的输出轴带动螺杆旋转，挡板上开设有螺孔并套接于螺杆外，挡板底部与推板上部固定。

3、较佳的，所述载物板上表面设有吸光材料层。

4、较佳的，推板厚度、载物板厚度、推料通道的高度三者相等。

5、较佳的，凹槽的深度满足当放入待测芯片时，芯片顶部不凸出于载物板上表面。

6、较佳的，所述推板的长度大于载物板与推料通道的长度之和。

7、本实用新型使用时，将待测芯片放置于载物板上，再叠放移入料仓内，需检验芯片时，控制第一推顶机构将最下方的载物板推出推料通道，由检测机构对其进行检测，若合格则再由推板将载物板推出检测机构的出料口，若不合格则由第二推顶装置带动筛料板将载物板由检测机构的侧向顶出，以完成芯片的检测和筛选，本实用新型设计精简合理，送料效率高。

技术特征：

1.一种芯片检测进料机构，其特征在于：包括：料仓，料仓下部设有左右贯通的推料通道，料仓上部设有贯通至推料通道顶部的料槽，料槽内堆叠有多个的载物板，载物板上设有用于放置待检芯片的凹槽；推料通道一端设有推板，推板由固定于料仓一侧的第一推顶机构带动在推料通道内左右移动，料仓在与第一推顶机构相邻的一侧设有第二推顶机构，第二推顶机构通过连接板带动筛料板于推料通道的出口处前后移动。

2.根据权利要求1所述芯片检测进料机构，其特征在于：所述第一推顶机构包括固定于料仓左侧壁的步进电机，步进电机的输出轴带动螺杆旋转，挡板上开设有螺孔并套接于螺杆外，挡板底部与推板上部固定。

3.根据权利要求2所述芯片检测进料机构，其特征在于：所述载物板上表面设有吸光材料层。

4.根据权利要求3所述芯片检测进料机构，其特征在于：推板厚度、载物板厚度、推料通道的高度三者相等。

5.根据权利要求4所述芯片检测进料机构，其特征在于：凹槽的深度满足当放入待测芯片时，芯片顶部不凸出于载物板上表面。

6.根据权利要求5所述芯片检测进料机构，其特征在于：所述推板的长度大于载物板与推料通道的长度之和。

技术总结
本技术公开了一种芯片检测进料机构，包括：料仓，料仓下部设有左右贯通的推料通道，料仓上部设有贯通至推料通道顶部的料槽，料槽内堆叠有多个的载物板，载物板上设有用于放置待检芯片的凹槽；推料通道一端设有推板，推板由固定于料仓一侧的第一推顶机构带动在推料通道内左右移动，料仓在与第一推顶机构相邻的一侧设有第二推顶机构，第二推顶机构通过连接板带动筛料板于推料通道的出口处前后移动，本技术设计精简合理，送料效率高。

技术研发人员：刘彦成,殷宪启
受保护的技术使用者：江苏森林金属装饰材料有限公司
技术研发日：20240228
技术公布日：2024/12/5