一种芯片约束和综合的实现方法、装置、设备及介质与流程

本发明涉及芯片设计领域，特别是涉及一种芯片约束和综合的实现方法、装置、设备及介质。

背景技术：

1、随着信息技术的发展，对信息系统的数据处理能力、安全性等的要求也越来越高。为了满足计算需求，实现芯片系统大规模快速计算和通信，需要越来越多更加先进的中央处理器、图形处理器以及其他计算芯片。

2、在芯片的设计流程中，必要的一步是寄存器传输级（register transfer level，rtl）代码的综合。该综合步骤是连接芯片rtl映射器件的关键一步，通常在芯片综合时直接写约束脚本，但是随着芯片的复杂度和集成度逐渐增大，导致芯片综合速度和综合后网表质量越来越差。

3、由此可见，如何解决芯片综合速度和综合后网表质量越来越差的问题，是本领域人员亟需解决的技术问题。

技术实现思路

1、本发明的目的是提供一种芯片约束和综合的实现方法、装置、设备及介质，可以省去直接编写时序约束流程，快速有效的对芯片进行综合流程，实现芯片快速综合。

2、为了解决上述技术问题，本发明提供一种芯片约束和综合的实现方法，所述方法包括：

3、构建芯片约束统计表格或芯片约束统计文本文件；

4、在所述芯片约束统计表格或所述芯片约束统计文本文件中，生成芯片相关约束信息；

5、将生成有所述芯片相关约束信息的所述芯片约束统计表格或所述芯片约束统计文本文件转换成约束文件；

6、在所述约束文件中添加目标综合条件，得到目标综合脚本，以进行芯片综合。

7、第一方面，在本发明提供的上述芯片约束和综合的实现方法中，将生成有所述芯片相关约束信息的所述芯片约束统计表格或所述芯片约束统计文本文件转换成约束文件，包括：

8、生成设定转换脚本；

9、采用所述设定转换脚本直接将生成有所述芯片相关约束信息的所述芯片约束统计表格或所述芯片约束统计文本文件转换成约束文件。

10、另一方面，在本发明提供的上述芯片约束和综合的实现方法中，在所述芯片约束统计表格或所述芯片约束统计文本文件中，生成芯片相关约束信息，包括：

11、在所述芯片约束统计表格中，生成包含时钟名称，频率，周期，分频系数，输入接口延时，输出接口延时，最大延时，跨周期以及自定义约束的芯片相关约束信息；

12、或，在所述芯片约束统计文本文件中，生成包含时钟名称，频率，周期，分频系数，输入接口延时，输出接口延时，最大延时，跨周期以及自定义约束的芯片相关约束信息；

13、对应地，采用所述设定转换脚本直接将生成有所述芯片相关约束信息的所述芯片约束统计表格或所述芯片约束统计文本文件转换成约束文件，包括：

14、采用所述设定转换脚本直接读取生成有包含时钟名称，频率，周期，分频系数，输入接口延时，输出接口延时，最大延时，跨周期以及自定义约束的芯片相关约束信息的所述芯片约束统计表格或所述芯片约束统计文本文件的信息，并将读取的信息转换成约束条件语句；

15、将转换得到的约束条件语句作为约束文件。

16、另一方面，在本发明提供的上述芯片约束和综合的实现方法中，在所述约束文件中添加目标综合条件，包括：

17、采用通用综合脚本直接读取所述约束文件；

18、或，通过电子设计自动化用户界面直接读取所述约束文件；

19、在读取的所述约束文件中添加目标综合条件。

20、另一方面，在本发明提供的上述芯片约束和综合的实现方法中，在进行芯片综合的过程中，包括：

21、直接读取所述目标综合脚本；

22、从所述目标综合脚本中自动识别所需关键信息进行芯片综合。

23、另一方面，在本发明提供的上述芯片约束和综合的实现方法中，在进行芯片综合之后，还包括：

24、对综合后的结果进行一键式整理，得到综合日志并一键式输出；

25、根据输出的综合日志来检测网表质量。

26、另一方面，在本发明提供的上述芯片约束和综合的实现方法中，根据输出的综合日志来检测网表质量，包括：

27、对输出的综合日志进行归类处理，检测得到时序结果，面积结果，约束结果，功耗结果。

28、为了解决上述技术问题，本发明还提供一种芯片约束和综合的实现装置，所述装置包括：

29、表格文本构建模块，用于构建芯片约束统计表格或芯片约束统计文本文件；

30、约束信息生成模块，用于在所述芯片约束统计表格或所述芯片约束统计文本文件中，生成芯片相关约束信息；

31、约束文件转换模块，用于将所述芯片约束统计表格或所述芯片约束统计文本文件中的芯片相关约束信息转换成约束文件；

32、芯片综合模块，用于在所述约束文件中添加目标综合条件，得到目标综合脚本，以进行芯片综合。

33、为了解决上述技术问题，本发明还提供一种电子设备，包括：

34、存储器，用于存储计算机程序；

35、处理器，用于执行所述计算机程序时实现上述的芯片约束和综合的实现方法的步骤。

36、为了解决上述技术问题，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的芯片约束和综合的实现方法的步骤。

37、从上述技术方案可以看出，本发明所提供的一种芯片约束和综合的实现方法，包括：构建芯片约束统计表格或芯片约束统计文本文件；在芯片约束统计表格或芯片约束统计文本文件中，生成芯片相关约束信息；将生成有芯片相关约束信息的芯片约束统计表格或芯片约束统计文本文件转换成约束文件；在约束文件中添加目标综合条件，得到目标综合脚本，以进行芯片综合。

38、本发明的有益效果在于，本发明提供的上述芯片约束和综合的实现方法，用表格或文本文件来代替直接编写约束，先构建芯片约束统计表格或文本文件，在表格或文本文件中生成芯片相关约束信息，然后将约束信息以表格或文本文件的形式转换为约束文件，这样避免用户编写约束文件，因为随着芯片的集成度和复杂度逐渐增大，设计的芯片寄存器传输级代码越来越多，直接编写约束文件越来越复杂，而本发明将约束信息转换为约束文件，简洁方便，省去直接编写时序约束流程，并且在约束文件中添加目标综合条件后进行芯片综合，灵活简化脚本生成过程，减少了芯片综合阶段的时间，可以快速有效的对芯片进行综合流程，实现芯片快速综合，保证芯片综合后网表的时序关系，进而提高网表的可靠性和准确性，提升芯片综合整体工作性能。

39、此外，本发明还针对芯片约束和综合的实现方法提供了相应的芯片约束和综合的实现装置、电子设备及计算机可读存储介质，与上述提到的芯片约束和综合的实现方法具有相同或相对应的技术特征，效果同上。

技术特征：

1.一种芯片约束和综合的实现方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的芯片约束和综合的实现方法，其特征在于，将生成有所述芯片相关约束信息的所述芯片约束统计表格或所述芯片约束统计文本文件转换成约束文件，包括：

3.根据权利要求2所述的芯片约束和综合的实现方法，其特征在于，在所述芯片约束统计表格或所述芯片约束统计文本文件中，生成芯片相关约束信息，包括：

4.根据权利要求1所述的芯片约束和综合的实现方法，其特征在于，在所述约束文件中添加目标综合条件，包括：

5.根据权利要求1所述的芯片约束和综合的实现方法，其特征在于，在进行芯片综合的过程中，包括：

6.根据权利要求1所述的芯片约束和综合的实现方法，其特征在于，在进行芯片综合之后，还包括：

7.根据权利要求6所述的芯片约束和综合的实现方法，其特征在于，根据输出的综合日志来检测网表质量，包括：

8.一种芯片约束和综合的实现装置，其特征在于，所述装置包括：

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的芯片约束和综合的实现方法的步骤。

技术总结
本发明涉及芯片设计领域，公开了一种芯片约束和综合的实现方法、装置、设备及介质，该方法包括：构建芯片约束统计表格或芯片约束统计文本文件；在芯片约束统计表格或芯片约束统计文本文件中，生成芯片相关约束信息；将生成有芯片相关约束信息的芯片约束统计表格或芯片约束统计文本文件转换成约束文件；在约束文件中添加目标综合条件，得到目标综合脚本，以进行芯片综合。这样将约束信息转换为约束文件，简洁方便，省去直接编写时序约束流程，并且在约束文件中添加目标综合条件后进行芯片综合，可以快速有效的对芯片进行综合流程，实现芯片快速综合，保证芯片综合后网表的时序关系，进而提高网表的可靠性和准确性。

技术研发人员：曹江城
受保护的技术使用者：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/12/5