一种去偏移电路的制作方法

专利查询7小时前  1


本发明涉及电路设计,特别是涉及一种去偏移电路。


背景技术:

1、去偏移(de-skew)电路是芯片中的常用模块,去偏移电路通过调节信号延迟来保证整体时序及功能正确。现有技术中,去偏移电路通常是采用纯粹的cmos门级电路延迟来实现,例如采用反相器实现去偏移电路。

2、但是,在上述去偏移电路的实现方式中,cmos门级电路对应的延时会随着芯片内部电源电压和温度的变化而变化,这种延时变化而导致的不确定性,会给系统设计和应用带来很大挑战,成为制约芯片可靠性和速度提升的瓶颈。

3、因此,如何降低芯片内部电压波动和温度漂移对去偏移电路的延迟的影响,从而提高去偏移电路延迟的稳定性成为了亟待解决的问题。


技术实现思路

1、针对上述技术问题,本发明采用的技术方案为:

2、一种去偏移电路,所述去偏移电路包括:m个去偏移单元{a1,a2,…,am,…,am}、n个第二反相器{b1,b2,…,bn,…,bn},其中,am为第m个去偏移单元,a1的输入端用于接收初始信号,ai的输入端与ai-1的输出端连接,i为[2,m]范围内的整数。

3、am包括第一反相器cm和延迟电路dm,c1的输入端用于接收所述初始信号,c1的输出端与d1的输入端连接,ci的输入端与di-1的输出端连接,di的输入端与ci的输出端连接。

4、b1的输入端与am的输出端连接,bj的输入端与bj-1的输出端连接,j为[2,n]范围内的整数,bn的输出端用于输出目标信号。

5、本发明与现有技术相比具有明显的有益效果,借由上述技术方案,本发明提供的一种去偏移电路可达到相当的技术进步性及实用性,并具有产业上的广泛利用价值,其至少具有以下有益效果:

6、本发明提供了一种去偏移电路,所述去偏移电路包括:m个去偏移单元{a1,a2,…,am,…,am}、n个第二反相器{b1,b2,…,bn,…,bn},其中,am为第m个去偏移单元,a1的输入端用于接收初始信号,ai的输入端与ai-1的输出端连接,i为[2,m]范围内的整数,am包括第一反相器cm和延迟电路dm,c1的输入端用于接收所述初始信号,c1的输出端与d1的输入端连接,ci的输入端与di-1的输出端连接,di的输入端与ci的输出端连接,b1的输入端与am的输出端连接,bj的输入端与bj-1的输出端连接,j为[2,n]范围内的整数,bn的输出端用于输出目标信号。

7、可知,在传统cmos门级延迟电路的基础上,仅需要插入不受电压和温度影响的延迟电路,就可以有效抑制通路总体延迟随电源温度变化的变化幅度,降低芯片内部电压波动和温度漂移对去偏移电路的延迟的影响,从而提高去偏移电路延迟的稳定性,同时无需特殊的工艺步骤以及额外的控制时序和电路,易于实现。



技术特征:

1.一种去偏移电路,其特征在于,所述去偏移电路包括:m个去偏移单元{a1,a2,…,am,…,am}、n个第二反相器{b1,b2,…,bn,…,bn},其中,am为第m个去偏移单元,a1的输入端用于接收初始信号,ai的输入端与ai-1的输出端连接,i为[2,m]范围内的整数;

2.根据权利要求1所述的去偏移电路,其特征在于,所述延迟电路dm包括电阻em和电容fm;

3.根据权利要求2所述的去偏移电路,其特征在于,fm为金属层电容,所述去偏移电路设置于预设芯片上,所述预设芯片包括第一电路层和第二电路层,cm、em和fm位于所述第一电路层或者cm、em和fm位于所述第二电路层。

4.根据权利要求3所述的去偏移电路,其特征在于,fm位于所述第一电路层,cm、em位于所述第二电路层。

5.根据权利要求2所述的去偏移电路,其特征在于,所述去偏移电路还包括地线和电源线;

6.根据权利要求1所述的去偏移电路,其特征在于,当m为奇数且所述目标信号与所述初始信号同相时,n为1;

7.根据权利要求1所述的去偏移电路,其特征在于,单个第一反相器对应的延时为t1,单个第二反相器对应的延时也为t1,单个延迟电路对应的延时为t2;

8.根据权利要求7所述的去偏移电路,其特征在于,t2=r×t1,其中,r为延时倍率且r为正数。


技术总结
本申请涉及电路设计技术领域,特别是涉及一种去偏移电路,电路包括:M个去偏移单元、N个第二反相器,a<subgt;1</subgt;的输入端用于接收初始信号,a<subgt;i</subgt;的输入端与a<subgt;i‑1</subgt;的输出端连接,a<subgt;m</subgt;包括第一反相器c<subgt;m</subgt;和延迟电路d<subgt;m</subgt;,c<subgt;1</subgt;的输入端用于接收初始信号,c<subgt;1</subgt;的输出端与d<subgt;1</subgt;的输入端连接,c<subgt;i</subgt;的输入端与d<subgt;i‑1</subgt;的输出端连接,d<subgt;i</subgt;的输入端与c<subgt;i</subgt;的输出端连接,b<subgt;1</subgt;的输入端与a<subgt;M</subgt;的输出端连接,b<subgt;j</subgt;的输入端与b<subgt;j‑1</subgt;的输出端连接,b<subgt;N</subgt;的输出端用于输出目标信号,在传统CMOS门级延迟电路的基础上,仅需要插入不受电压和温度影响的延迟电路,就可以有效抑制通路总体延迟随电源温度变化的变化幅度,从而提高去偏移电路延迟的稳定性。

技术研发人员:赵海波,卢文才,刘磊
受保护的技术使用者:南京启见半导体科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/12/5

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