一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备分料组件的制作方法

一种集成芯片pin检测与不良品分类设备分料组件
技术领域
1.本实用新型属于集成芯片pin检测及分类领域，具体涉及一种集成芯片pin检测与不良品分类设备分料组件。


背景技术：

2.集成芯片在生产的过程中需要对pin进行检测，并区分检测后的pin的良品和不良品。传统的设备检测时装载集成芯片的治具需要人工进行循环，或者通过一些简单的结构辅助进行循环。上述缺陷大大的制约了pin不良分类的效率，同时也降低了分类的精度。现有技术中存在一些解决上述问题的相关的探索，但都不能满足实际的需求。


技术实现要素：

3.本实用新型所要解决的技术问题便是针对上述现有技术的不足，提供一种集成芯片pin检测与不良品分类设备分料组件，分料组件设置一个良品出料组件和数个不良品出料组件，可对电性检测后的集成芯片进行分类。
4.本实用新型所采用的技术方案是：一种集成芯片pin检测与不良品分类设备分料组件，包括设置于集成芯片pin检测与不良品分类设备的循环组件位置较低的侧面的良品出料组件和数个不良品出料组件，所述良品出料组件和数个不良品出料组件均通过上移或下移与所述循环组件的循环治具的滑槽连通，所述良品出料组件设置于与所述循环组件的进料轨道对应的位置，数个所述不良品出料组件从靠近所述循环组件的进料轨道的一端到远离进料轨道的一端依次延伸。
5.其中一个实施例中，数个所述不良品出料组件包括但不限于dcr不良品出料组件、lk不良品出料组件、lx不良品出料组件、bl不良品出料组件、tr不良品出料组件和多种不良品出料组件。
6.其中一个实施例中，所述良品出料组件和每个不良品出料组件均包括气缸安装板和出料块，所述气缸安装板上设有与出料块连接且驱动出料块上移和下移的驱动气缸，所述出料块上设有与进料轨道连通且可供集成芯片通过的出料槽。
7.其中一个实施例中，所述出料块顶部设有盖板。
8.本实用新型的有益效果在于：
9.1、分料组件设置一个良品出料组件和数个不良品出料组件，可对电性检测后的集成芯片进行分类；
10.2、良品出料组件和数个不良品出料组件均通过上移或下移实现与循环治具的连通，保证集成芯片在推送过程中不会误入错误的出料通道。
附图说明
11.图1为本实用新型结构示意图；
12.图2为良品出料组件和不良品出料组件结构示意图。
13.图中：5、循环组件；53、进料轨道；54、循环治具；541、滑槽；71、良品出料组件；72、dcr不良品出料组件；73、lk不良品出料组件；74、lx不良品出料组件；75、bl不良品出料组件；76、tr不良品出料组件；77、多种不良品出料组件；711、气缸安装板；712、出料块；713、驱动气缸；714、盖板；7121、出料槽。
具体实施方式
14.下面将结合附图及具体实施例对本实用新型作进一步详细说明。
15.实施例1：
16.如图1所示，一种集成芯片pin检测与不良品分类设备分料组件，包括设置于集成芯片pin检测与不良品分类设备的循环组件5位置较低的侧面的良品出料组件71和数个不良品出料组件，所述良品出料组件71和数个不良品出料组件均通过上移或下移与所述循环组件5的循环治具54的滑槽541连通，所述良品出料组件71设置于与所述循环组件5的进料轨道53对应的位置，数个所述不良品出料组件从靠近所述循环组件5的进料轨道53的一端到远离进料轨道53的一端依次延伸。
17.分料组件设置一个良品出料组件71和数个不良品出料组件，可对电性检测后的集成芯片进行分类。同时，良品出料组件71和数个不良品出料组件均通过上移或下移与循环治具54的滑槽541连通，保证集成芯片在推送过程中不会误入错误的出料通道。
18.实施例2：
19.如图1所示，在上述实施例的基础上，数个所述不良品出料组件包括但不限于dcr不良品出料组件72、lk不良品出料组件73、lx不良品出料组件74、bl不良品出料组件75、tr不良品出料组件76和多种不良品出料组件77。
20.不良品出料组件为数种，其数量可根据实际情况增加或减少，以满足不同情况下不良品分类的需求。
21.实施例3：
22.如图1和图2所示，在上述实施例的基础上，所述良品出料组件71和每个不良品出料组件均包括气缸安装板711和出料块712，所述气缸安装板711上设有与出料块712连接且驱动出料块712上移和下移的驱动气缸713，所述出料块712上设有与进料轨道53连通且可供集成芯片通过的出料槽7121。
23.良品出料组件71和每个不良品出料组件均通过驱动气缸713驱动出料块712的方式连通出料槽7121，以进行出料，防止集成芯片在推送过程中误入错误的出料通道。
24.实施例4：
25.如图1和图2所示，在上述实施例的基础上，所述出料块712顶部设有盖板714。
26.盖板714的设置，在集成芯片进入出料块712时可对其进行限位，防止集成芯片被抛离设备。
27.分料组件7设置一个良品出料组件71和数个不良品出料组件。如果电性测试合格，良品出料组件71的驱动气缸713驱动出料块712上移或下移，将出料块712上的出料槽7121与循环组件5连通，该集成芯片通过出料槽7121排出。如果电性测试不合格，循环组件5会带动循环治具54移动到对应的不良品出料组件的位置，该不良品出料组件的驱动气缸713驱动出料块712上移或下移，将出料块712上的出料槽7121与循环组件5连通，该集成芯片通过
出料槽7121排出。
28.所述的不良品出料组件的dcr不良品出料组件72为电阻检测不合格的不良品对应的出料组件；lk不良品出料组件73为电感检测不合格的不良品对应的出料组件；lx不良品出料组件74为漏感检测不合格的不良品对应的出料组件；bl不良品出料组件75为圈比检测不合格的不良品对应的出料组件；tr不良品出料组件76为极性检测不合格的不良品对应的出料组件；多种不良品出料组件77为上述两种及多种检测不合格的不良品对应的出料组件。
29.以上所述实施例仅表达了本实用新型的具体实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。


技术特征：
1.一种集成芯片pin检测与不良品分类设备分料组件，包括设置于集成芯片pin检测与不良品分类设备的循环组件位置较低的侧面的良品出料组件和数个不良品出料组件，所述良品出料组件和数个不良品出料组件均通过上移或下移与所述循环组件的循环治具的滑槽连通，所述良品出料组件设置于与所述循环组件的进料轨道对应的位置，数个所述不良品出料组件从靠近所述循环组件的进料轨道的一端到远离进料轨道的一端依次延伸。2.根据权利要求1所述的一种集成芯片pin检测与不良品分类设备分料组件，其特征在于，数个所述不良品出料组件包括但不限于dcr不良品出料组件、lk不良品出料组件、lx不良品出料组件、bl不良品出料组件、tr不良品出料组件和多种不良品出料组件。3.根据权利要求2所述的一种集成芯片pin检测与不良品分类设备分料组件，其特征在于，所述良品出料组件和每个不良品出料组件均包括气缸安装板和出料块，所述气缸安装板上设有与出料块连接且驱动出料块上移和下移的驱动气缸，所述出料块上设有与进料轨道连通且可供集成芯片通过的出料槽。4.根据权利要求3所述的一种集成芯片pin检测与不良品分类设备分料组件，其特征在于，所述出料块顶部设有盖板。

技术总结
本实用新型公开一种集成芯片PIN检测与不良品分类设备分料组件，包括设置于集成芯片PIN检测与不良品分类设备的循环组件位置较低的侧面的良品出料组件和数个不良品出料组件，所述良品出料组件和数个不良品出料组件均通过上移或下移与所述循环组件的循环治具的滑槽连通，所述良品出料组件设置于与所述循环组件的进料轨道对应的位置，数个所述不良品出料组件从靠近所述循环组件的进料轨道的一端到远离进料轨道的一端依次延伸。本实用新型分料组件设置一个良品出料组件和数个不良品出料组件，可对电性检测后的集成芯片进行分类。可对电性检测后的集成芯片进行分类。可对电性检测后的集成芯片进行分类。


技术研发人员：何星 母寿星 刘军 王强
受保护的技术使用者：四川辰鸿电子有限公司
技术研发日：2021.08.30
技术公布日：2022/3/8